反射率測定装置 MSP-100

微小領域、曲面、極薄試料の高速、高精度測定を、かつてない低コストで実現

株式会社渋谷光学

●特殊ハーフミラー(特許取得済)の採用により、裏面反射光をカットし、裏面処理無しで短時間で正確な測定ができます。(薄板0.2mmの反射率測定が可能:×20倍対物レンズ使用時)
●レンズ曲面、コーティングむらも測定可能です。(試料面に微小スポット(φ50μm)を結ぶ)
●低反射試料でも短時間で再現性の高い測定ができます。(独自の光学設計により光量を最大限に取り込み、512素子のリニアPDA、16bit A/Dコンバータ内蔵、USB2.0インターフェース高速演算でスピーディな測定を実現)
●色度測定、L*a*b*測定ができます。分光反射率から分光測色法に基づき物体測定ができます。
●Microsoft Excel(R)形式でのデータ保存が可能です。
●単層膜を非接触、非破壊で測定ができます。
●同一の画面上に複数の測定結果を表示機能付きです。測定結果の比較が容易になります。

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渋谷光学は埼玉県和光市にある光学部品等の販売会社です。 50年の歴史で培った設計と加工ノウハウに基いて信頼できる品質、リーズナブルな価格、そして迅速な納期でご提供します。 光学部品は研究開発用の試...

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