ELP-150ART型・ELP-150ART-2型
コンパクトディスク、光ディスク等の内部歪みによる位相差及び進相軸を測定
透明体を透過した光の偏光状態の変化を回転検光子によって、角度に対応した光電出力信号として取り出し、これをA/D変換し、パーソナルコンピュータにより演算出力します。
■透過測定と反射測定ができる
■透過測定は、垂直入射、斜入射測定が可能
■反射測定は、表裏の反射干渉の影響を受けない
■測定時間は、1ポイント3秒以下と高速
■測定デ-タは、市販の表計算で読み込み可能
■測定条件の登録が可能
■ELP-150ART
位相差角、軸の方位、リタデ-ション
■ELP-150ART-2
位相差角、軸の方位、リタデ-ション
■ELP-150ART
透過測定 632.8nmの1波長
反射測定 632.8nm±5nm
■ELP-150ART-2
透過測定 405nm、632.8nmの2波長
反射測定 632.8nm±5nm
±(使用波長の半分)
株式会社溝尻光学工業所は創業以来90年の実績で培った技術力を基に、他社ではできない特注・カスタマイズ測定機をご提供しております。 測定にお困りの際には、まずはお気軽にご相談頂ければあらゆる可能性をご...
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