半導体検査装置
AITS-OSL (オープン・ショート・リーク テストシステム)
LSIの多ピン化に対応したローコスト版コンパクトテスタ。
バーンイン検査前後のデバイス選別や出荷前の混入検査などにお使いいただけます。
オープン・ショート・リーク テストシステム AITS-OSLのダウンロード (2.3Mb)
1個測で最大2048ピンのデバイスに対応可能
被試験デバイス（DUT)を最大8個動時測定可能
プログラム言語の習得が不要
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オープン・ショート・リーク テストシステム AITS-OSL
企業情報
株式会社シキノハイテック
弊社は1986年の事業開始以来「お客様第一主義」を掲げ、LSI設計事業、半導体検査・評価装置関連事業等の実績を築いてまいりました。 弊社の得意分野である ●LSIデザイン(デジタル/アナログ） ●J...
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