半導体検査装置 ローコストアナログテスター
AITS-200 (アナログテストシステム)
DCテスト、ACテストのいずれにも適用可能な汎用アナログICテスター。
セミカスタム仕様で多様化するお客様のニーズに対応します。
アナログICテストシステムAITS-200のダウンロード (2.1Mb)
被試験デバイス（DUT）を4個同時測定
±40V/±2Aまで出力可能な定電圧・定電流源
20MHzの正弦波、矩形波等が出力可能なファンクションジェネレータ
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アナログICテストシステムAITS-200
企業情報
株式会社シキノハイテック
弊社は1986年の事業開始以来「お客様第一主義」を掲げ、LSI設計事業、半導体検査・評価装置関連事業等の実績を築いてまいりました。 弊社の得意分野である ●LSIデザイン(デジタル/アナログ） ●J...
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