AOI装置

MV-7OMNI series

過剰検出の低減を実現した基板実装向け3次元AOI装置

日本ミルテック株式会社

SMT電子部品実装業界向け外観検査装置です。
プリント基板に電子部品を実装した製品をカメラで撮像し、その実装状態（部品の有無・部品のズレ・部品違い・部品のはんだ付け状態）を自動検査する装置です。

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AOI装置の特長

OMNI-VISION® 2D/3D Inspection Technology

3D計測の原理と活用
モアレ縞の光をプロジェクタから実装部品に照射し、その反射光をカメラで撮影します。その光の位相のズレから部品の高さが計測出来ます。（反射型位相シフトモアレ法）

この原理を活用し、部品、ICリード部の高さを計測します。その高さの違いから部品の浮き、ICリードの浮き、部品の表裏反転、欠品等の検査を実施します。従来の2Dの検査より、不良検出力が大幅に向上します。その為、2D検査の課題であった過剰検出の低減が図れます。

3D（高さ）で不良検出力が向上する検査項目
ICリードの浮き
チップ部品等部品の浮き、傾き
部品の有無（欠品検査）
ミニトランジスタ等部品の表裏反転

・デジタルモアレ縞照射方式による計測精度の向上
従来のモアレ縞照射では1種類のモアレ縞パターンしか照射出来ませんでした。しかし、デジタルモアレ縞方式のプロジェクタの開発により、複数のモアレ縞を瞬時に切り替え照射する事が可能になりました。この技術を活用し、2種類のモアレ縞を照射し、測定精度を向上させました。

・高い部品の影響回避（4方向からの照射）
測定したい部品に隣接する高い部品が有る場合は、モアレ縞パターンがその高い部品に遮られ、高さ計測が出来ません。その為、4方向からモアレ縞パターンを照射し、その問題を回避しています。