タカヤの最新技術を導入した多機能・高速インサーキットテスタ
・画期的な4ヘッド&6フライングプローブシステム
・BGAに対応する新ICオープン検出システム
・高速検査と超高精度プロービング
・簡易ファンクションテスト(4象限動作)が可能なDCソースメジャーシステム
・LEDの発光色・輝度検査システム
・操作性を大幅に向上するフラットデザインのユーザーインターフェイス
この製品の利用用途
検査治具の製作が困難な高密度SMT基板の検査
試作基板の検査
品質要求の高い産業機器用基板
生産数量・生産日程の変化が多い多品種変量生産基板
搭載部品の少ない基板の全数検査
マウンタプログラム確認用のチップ部品定数チェック
量産工程における品質確認のための定期抜き取り検査
1回の生産量は少ないが、生産期間の長い基板の検査
不良率の高いエリアのみの限定検査
外観検査では検出できない不良に限定した検査
ファインピッチ部品のマイクロハンダショートの検出限定検査
ファンクション検査で不良判定された基板の不良解析
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