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マスク欠陥検査装置

マスク欠陥検査装置 Product Description

デザインノード20nm~10nm以降に対応できる半導体マスク検査装置

マスク欠陥検査装置 Models (2)

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MATRICS X810EXシリーズ - (See model)
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マスク欠陥検査装置 Details

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