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P-733.Z | 高剛性Z軸ピエゾステージ

高 い平面度と真直度が要求される位置決めに最適!Z軸ピエゾステージ

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高剛性Z軸ピエゾステージ Product Description

高 い平面度と真直度が要求される位置決めに最適!Z軸ピエゾステージ

P-733.Zピエゾ垂直ステージは、100μmのポジショニングおよびスキャニングレンジをサブナノメーターの分解能で提供します。50 ×50mmのクリアアパーチャは、走査または共焦点顕微鏡法のような用途に理想的です。こ
れらはセットリング時間が10ミリ秒未満と速く、高いスループット率を実現します。

Main Usage

● 走査顕微鏡
● 共焦点顕微鏡
● マスク/ウェハーの
ポジショニング
● 表面測定技術
● ナノインプリンティング
● マイクロマニピュレーション
● 画像処理/安定化
● 高 い平面度と真直度が要求
されるナノポジショニング

高剛性Z軸ピエゾステージ Details

Manufacturer Brand Physik Instrumente
Model Page https://www.pi-japan.jp/ja/products/nanopositioning-piezo-flexure-stages/linear-piezo-flexure-stages/p-733z-high-dynamics-z-nanopositioner-scanner-201270/
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