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P-725.XCDE2 | 最大800µm動作の精密位置決め用 対物レンズピエゾステージ

装置構造を見直し、以前より高剛性でロングレンジ駆動を可能にしました。

最大800µm動作の精密位置決め用 対物レンズピエゾステージ Sales Info

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最大800µm動作の精密位置決め用 対物レンズピエゾステージ Product Description

装置構造を見直し、以前より高剛性でロングレンジ駆動を可能にしました。

・ストローク:100µm、400µm、800µm
・静電容量センサー内蔵
・高剛性によりハイダイナミクス動作にも最適
・ケーブルの柔軟性
・幅広い設置方法

※新デジタルコントローラとの併用でより高精度に!

Main Usage

・各種顕微鏡(共焦点、ライトシート、超解像度、2光子など)
・3Dイメージング
・スクリーニング
・干渉計測機
・高精度測定
・オートフォーカスシステム
・バイオテクノロジー
・半導体検査など

最大800µm動作の精密位置決め用 対物レンズピエゾステージ Details

Manufacturer Brand Physik Instrumente
Model Page https://www.pi-japan.jp/ja/products/nanopositioning-piezo-flexure-stages/pifoc-objective-pinano-sample-scanners-for-microscopy/p-725xcde2-pifoc-objective-scanner-with-long-travel-range-412418521
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