【異物分析・品質管理に】 JCM-7000 NeoScope ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡

TM JCM-7000 光学像からSEM観察、元素分析まで 高い操作の壁を破る 卓上SEM 異物分析に 組成の異なる異物の発見が容易です 色だけでは分からない異物の元素組成が分かります 【例】食品に付着した黒色異物の分析 光学顕微鏡像 SEM像（反射電子組成像） O 粉体① 粉体① C Fe Si Fe Al 拡大 粉体② O Si 粉体② C Al 500 µm 光学顕微鏡で異物を観察すると 同一視野を SEM の反射電子組成像で観 粉体をそれぞれ画面いっぱいに拡大すれ 細かい粉体であることが分かります 察し、拡大すると輝度の違いから異なる ば、元素分析装置（EDS）を起動しなく 種類の粉体があることが分かります ても、スペクトルが表示され、主元素が 分かります 品質管理に 光学像で観察が困難な、表面形態の観察が得意です 無処理で観察、分析ができるので、製造ラインの抜き取り検査にも使用できます 【例】　顆粒（医薬品）表面に添加した滑沢剤の分布観察 光学顕微鏡像 SEM像（反射電子組成像） SEM像（反射電子組成像） 拡大 200 µm 光学顕微鏡では、白い顆粒（医薬品）上 顆粒と滑沢剤は組成が異なるため、SEM 拡大すると、滑沢剤の付着状態を観察す に添加した白い滑沢剤の付着状態を確認 の反射電子組成像を使えば、滑沢剤の分 ることができます することが困難です 布が一目で分かります

TM JCM-7000 JCM-7000は、「誰でもSEM/EDS が操作できる」 ために ２つの大きな機能をご用意しています 試料：岩塩 機能１: Zeromag *1 反射電子立体像 光学像を拡大するとSEM像に切り替わります 10 µm 500 µm 機能２: Live Analysis *2 観察中の視野の主元素が分かります *1 Zeromag（光学像）の撮影には、ステージナビゲーション 　システム（オプション）が必要です *2 EDS元素分析装置（オプション）が必要です そのほかの機能はこちらをご覧ください https://www.jeol.co.jp/products/special_edition/2018/special02.html 新機能 :「Live 3D」標準搭載 主なオプション SEM像と 3D画像を、Live で二画面表示することができます。 NEW! ◆ 傾斜回転モーター駆動ホルダー SEM像で凹凸の分かりにくい試料の形状判断を、Live 3D画像 　 傾斜： ‒10° ～ +45°、 回転： 360° を用いて瞬時にできるだけでなく、深さの情報も得られます。 ◆ ステージナビゲーションシステム ◆ EDS元素分析装置 【例】プリント基板パッド部のへこみ SEM像（反射電子立体像） Live 3D画像 Ｙ [μｍ] Z [μｍ] Ｘ [μｍ] 50 µm Breakthrough 写真倍率 ×10 ～ 100,000　（128 mm × 96 mm を表示サイズとして倍率を規定） 画像モード 高真空：二次電子像、　反射電子像（組成、凹凸、立体、3D） 低真空：反射電子像（組成、凹凸、立体、3D） 加速電圧 5 kV, 10 kV, 15 kV (3 段 ) 電子銃 タングステンフィラメント・ウェーネルト一体型グリッド モーター駆動ステージ X-Y 2 軸　標準 最大試料寸法 80 mm 径 × 50 mm 高さ ＊外観・仕様は予告なく変更することがあります。 No. 1703I907C (Kp)