ウェハーの測定に特別設計された蛍光X線測定装置 FISCHERSCOPE(R) X-RAY XDV(R)-μ WAFER
製品カタログ
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ WAFERは、ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別に設計されたモデルです。
・エレクトロニクス産業や半導体産業などのウェハー測定
・薄膜コーティングの分析（例）0.1µm以下のAuやPdなど
・多層膜コーティングの測定など
・ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別に設計されたモデルです。
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このカタログについて
| ドキュメント名 | ウェハーの測定に特別設計された蛍光X線測定装置 FISCHERSCOPE(R) X-RAY XDV(R)-μ WAFER |
|---|---|
| ドキュメント種別 | 製品カタログ |
| ファイルサイズ | 252Kb |
| 登録カテゴリ | |
| 取り扱い企業 | 株式会社フィッシャー・インストルメンツ (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
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