蛍光X線方式膜厚測定/RoHS分析/素材分析器 FISCHERSCOPE(R) X-RAY XDV(R)-SDD
製品カタログ
XNiPリン濃度、薄膜皮膜測定、微量分析及びRoHS測定の為の蛍光Ｘ線測定器です。
■大きなセンシング面積と高いエネルギー分解能を持つシリコン・ドリフト・ディテクター（SDD）をX線検出器に採用しています。
■それぞれの分析において理想的な励起状態を作るためにコリメーターと一次フィルターが交換可能になっています。
■NiPの膜厚を測定しながら同時にNi,Pの各元素の濃度を高精度で分析する事が可能です。
■玩具や包装規格に従ったRoHS有害物質分析が可能です。
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このカタログについて
| ドキュメント名 | 蛍光X線方式膜厚測定/RoHS分析/素材分析器 FISCHERSCOPE(R) X-RAY XDV(R)-SDD |
|---|---|
| ドキュメント種別 | 製品カタログ |
| ファイルサイズ | 1.1Mb |
| 登録カテゴリ | |
| 取り扱い企業 | 株式会社フィッシャー・インストルメンツ (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
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