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性能と信頼性-INVENIOはその両方を兼ね備えたFT-IR分光計
ブルカーの革新技術を活用することで、FT-IR分析の生産性を向上させることができます。
◆定義済みワークフローによるユーザーフレンドリーなタッチ操作
◆統合されたATRアクセサリ
◆第2透過試料室(TransitTM)
◆アップグレード対応(UV/VIS-FIR,TRS)
◆新規SoCエレクトロニクス
◆豊富なサンプリングアクセサリ
◆固体、液体、気体の分析
◆装置性能自動試験機能
◆分光計の状態を常時モニタリング
◆各種医薬品規制に準拠
◆赤外顕微鏡、TGA、ハイスループットスクリーニングアクセサリなどの増設
◆ブルカー特許のパーマネントアライメントRockSolid(TM)干渉計
◆詳細はカタログをダウンロードしご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
このカタログについて
ドキュメント名 | INVENIO(R) S 生産性に優れるFT-IR分光計 |
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ドキュメント種別 | 製品カタログ |
ファイルサイズ | 1.1Mb |
登録カテゴリ | |
取り扱い企業 | ブルカージャパン株式会社 (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
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このカタログの内容
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INVENIO® S 生産性に優れる FT-IR 分光計
性能と信頼性 - INVENIO はその両方を兼ね 高品質ハードウェア
備えたFT-IR分光計です。ブルカーの革新技術 INVENIO は、日常分析やラボでの高度な分析における効率性を最大限
を活用することで、FT-IR 分析の生産性を向上 に重視した、最高性能の FT-IR 分光計です。最先端のSoC (system-on-a-
させることができます。 chip) エレクトロニクス、高精度な光学系、そして総合的な高品質設計によ
り、優れた赤外測定感度を実現しています。INVENIO S はあらゆる IR ア
特徴 プリケーションに適合します。試料のタイプにかかわらず、最適化されたア
< 定義済みワークフローによるユーザーフレン クセサリと拡張機能が、最適な実験条件を提供します。
ドリーなタッチ操作
< 統合された ATR アクセサリ スマートソフトウェア
< 第 2 透過試料室 (Transit™) OPUS および OPUS-TOUCH のユーザーインターフェースは、振 動分光分
< アップグレード対応 (UV/VIS-FIR, TRS) 析における最もパワフルなソフトウェアソリューションのひとつです。スペ
< 新規 SoC エレクトロニクス クトル処理、定性および定量評価、さらにレポート作成のための包括
< 豊富なサンプリングアクセサリ 的な機能により、常に適切なツールを提供し、明確な結果を生成しま
< 固体、液体、気体の分析 す。タッチパネル上で、数回タッチするだけで、スペクトル測定から評価
< 装置性能自動試験機能 解析に至るすべてを可能にするため、生産性がさらに向上します。
< 分光計の状態を常時モニタリング
< 各種医薬品規制に準拠 INVENIO はお客様の FT-IR 分析を最大限にサポートします。
< 赤外顕微鏡、TGA、ハイスループットスクリ
ーニングアクセサリなどの増設
< ブルカー特許のパーマネントアライメント
RockSolid™ 干渉計
F T-IR
Innovation with Integrity
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INVENIO はさまざまな IT ネットワー 第 2 透過試料室 Transit™ チャンネル
クに組み込むことができます。一体型 を用いることで、2つの手法による測定
タッチパネル PC はワイヤレス制御と を並行して進めることができます。
データ転送を提供します
お客様のアプリケーション
ブルカーのソリューション
INVENIO は、多種多様なタスクを支援する、信頼で
きるパートナーです。
試料の種類: アプリケーション:
< 原材料 < 品質管理
< 化学物質 < 故障解析
< ポリマー < ライフサイエンス
< 医薬品 < 環境
< エレクトロニクス < 定量 赤外顕微鏡およびイメージング顕微鏡の HYPERION
コーティング < 法医学 を増設することで、マイクロ分析に必要なさまざまな< ツールを提供します。
< タンパク質 < 美術および修復
< 微生物 < 表面分析
< 土壌 < その他
OPUS-TOUCH と所定のワークフロー OPUS を使用した有効な評価メソッド 赤外顕微鏡 HYPERION に FPA(2次
により、原材料の確認試験を迅速かつ の作成には、その技術の習得に多くの 元アレイ)検出器を搭載することで、
的確に実行できます。FT-IR の初心者 時間を必要としません。定性および定 高速赤外スペクトルイメージングが可
でも簡単に使用でき、またエキスパー 量解析の結果は、わかりやすく明確に 能となり、材料組成や含有物の分布な
トは完全に制御できます。 表示されます。 ど、複雑な構造物の分析に活用できま
す。
Bruker Optics is ISO 9001
and ISO 13485 certified.
本製品に使用されている技術は、以下の特許により保護されています: US 7034944 Laser class 1 product.
www.bruker.com/optics ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部
〒221-0022 神奈川県横浜市神奈川区守屋町3-9 B号ビル6階
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