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粒子法プラズマ解析ソフトウェア『Particle-PLUS』
粒子法プラズマ解析ソフトウェア『Particle-PLUS』は
プラズマを用いた装置・材料・デバイス研究・開発・製造に適した
シミュレーションソフトウェアです。
・低圧プラズマ解析を得意とします
・軸対称モデルと鏡面対称境界条件を組み合わせで
装置全体のシミュレーションを行う必要なく、 高速に結果を得ることができます。
・流体モデルでの計算が難しい低圧ガスでのプラズマシミュレーションを得意とします
・2D(2次元),3D(3次元)対応し、複雑なモデルでも効率良く解析できます
・自社開発ソフトの強みとして
お客様の装置に合わせたカスタマイズも可能です
また、ソフト販売だけではなく、受託解析も実施しております
◆さまざまな事例に対応◆
・マグネトロンスパッタ
・PVD、プラズマCVD
・容量結合プラズマ (CCP)
・誘電体バリア放電 (DBD)
・電気泳動 など
◆さまざまな計算結果を出力◆
・ポテンシャル分布
・電子・イオンの密度分布/温度分布/発生分布
・壁への粒子フラックスとエネルギーフラックス
・壁への電子・イオンのエネルギースペクトル
・中性ガスの密度分布/温度分布/速度分布
など
※詳しくはお気軽お問い合わせください
HPhttp://www.wavefront.co.jp
MAIL:information@wavefront.co.jp
このカタログについて
ドキュメント名 | 【Patricle-PLUS解析事例】DCマグネトロンスパッタリング解析 |
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ドキュメント種別 | 事例紹介 |
ファイルサイズ | 2.1Mb |
取り扱い企業 | 株式会社ウェーブフロント (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
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このカタログの内容
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Particle-PLUS計算事例
DCマグネトロンスパッタリング
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お問い合わせ先
Particle-PLUS 開発元 :
株式会社ウェーブフロント
神奈川県横浜市西区みなとみらい 2-3-3 クイーンズタワーB 12階
TEL : 045-682-7070 (代)
E-mail: sales@wavefront.co.jp
Web : http://www.wavefront.co.jp/
弊社取り扱いの製品に関するお問い合わせや、
受託業務に関するご相談などは、上記の連絡先へ
お気軽にお問い合わせください。
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モデル概要 DCマグネトロンスパッタリング
対称軸 軸対称モデル
基板 ガス流入
ガス流入 Ar 10 sccm
ガス流出 0.5 Pa
永久磁石 AlNiCo
プラズマ 磁気ヨーク Fe
標的 材質 Ti
電圧 DC -500 V
永久磁石 2次電子放出 係数 0.1
ガス流出
N S 金属標的 標的-基板間距離 30 mm
S N
磁気ヨーク
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cf. マグネトロンスパッタの物理 DCマグネトロンスパッタリング
✓ 正イオンは電場により加速されて標的
に衝突し、材料原子や二次電子を放出
させる (スパッタリング)
磁場方向
✓ 電子は磁場により回転運動 (サイクロ
トロン) し、その回転中心は画面手前
電場方向
方向へ移動する (EBドリフト)
標的 ✓ 高エネルギーの電子が原料ガスに衝突
し、電子とイオンを発生させる (電離)
✓ 以上のようにプラズマを定常的に発生
させながら、削られた材料原子を基板
に堆積させる (デポジション)
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中性ガス密度 DCマグネトロンスパッタリング
流入:Ar 10 sccm
[/m3]
数密度 n [/m3] の定義
流出:0.5 Pa
N : ある空間領域 (ここではセル1つ)
内に含まれる数
V : その領域の体積 [m3] 0.5 [Pa] ≒ 数密度1.2E20 [/m3] (300K)
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静磁場 DCマグネトロンスパッタリング
色 : 磁束密度ベクトルの大きさ
黒線 : 磁束密度ベクトルの流線
[T] (=[Wb/m2])
N S
S N
Fe
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プラズマ密度① DCマグネトロンスパッタリング
電子数密度 Ar+イオン数密度
[/m3] [/m3]
✓ 電子が磁場に補足されている様子が伺える
✓ Ar+イオンは電子に似た分布をとる
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プラズマ密度② DCマグネトロンスパッタリング
[ 拡大図 ] 電子数密度 Ar+イオン数密度
標的
✓ 表面付近では電子よりもAr+イオンが多い (イオンシース)
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電位と電場① DCマグネトロンスパッタリング
電位 電場 (色:大きさ, 矢印:向き)
接地
カソード
[V] [V/m]
強いシース電場
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接地
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電位と電場② DCマグネトロンスパッタリング
電位
プラズマ [V]
シース
標的(-500V)
✓ プラズマの電位はほぼゼロ(若干正)
✓ もしプラズマ中のAr+イオンがシースで加速されて標的に衝突する場合、
最大で 500 eV のエネルギーを持つことが期待される
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電子流速 DCマグネトロンスパッタリング
拡大
色 : 大きさ
矢印 : 向き
[ 座標軸を傾けて表示 ]
✓ 電子の流速はEBドリフト(Z+方向)
の成分が大半を占める 標的
[m/s]
【参考】近似式から大雑把に見積もられるドリフトの大きさ
E/B ≒(2.0×105[V/m])/(0.07[T]) =2.8×106[m/s]
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イオン流速 DCマグネトロンスパッタリング
+
✓ Ar イオンは重いため速度が
小さく、ほぼ電場の向きに
沿って移動する
粒子の運動方程式
小
色 : 大きさ
矢印 : 向き
[m/s]
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プラズマの温度* * ここではMaxwell速度の分散と同義 DCマグネトロンスパッタリング
電子温度 Ar
+イオン温度
(kT) (kT)
[eV] [eV]
標的に入射するAr+イオンの温度は低い 1 [eV] ≒ 11600 [K]
(速度が揃っている)
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プラズマのエネルギー DCマグネトロンスパッタリング
電子エネルギー(1個あたり) Ar+イオンエネルギー(1個あたり)
[eV] [eV]
✓ エネルギーの高い電子は原料ガスを電離させることができる
+ 1 [eV] =1.602×10
-19 [J]
✓ Ar イオンは高いエネルギーで標的に衝突している
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表面入射エネルギー DCマグネトロンスパッタリング
[ 値の押し上げ表示 ]
電子入射エネルギーフラックス
[W/m2]
Ar+イオン入射エネルギーフラックス
[W/m2]
+
✓ Ar イオンの入射エネルギーにより
標的が激しくスパッタされる
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表面入射イオンの頻度分布 DCマグネトロンスパッタリング
入射エネルギー頻度分布
入射角θと方位角Φの定義
(表面法線)
z
y
+
✓ Ar イオンの多くは
垂直に入射 θ
Φ x
入射角(θ)頻度分布 方位角(Φ)頻度分布
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入射イオン数頻度(立体角あたり) 入射イオン数頻度
入射イオン数頻度
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Tiのエロージョンと数密度 DCマグネトロンスパッタリング
Ti数密度
標的表面のTiエロージョンレート
中心軸からの距離 [m]
[/m3]
エロージョンやデポジションのレート R [m/s] の定義
Γ : 表面での原子フラックス [/(m2 s)]
ns : 固体中の原子濃度 [/m3]
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エロージョンレート [m/s]
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Tiデポジションレート DCマグネトロンスパッタリング
基板表面のTiデポジションレート Ti数密度
中心軸からの距離 [m]
✓ 標的から飛び出したTi原子は、原料ガスのArと衝突して拡散する
✓ 基板に到達したTi原子が堆積することで膜を形成する
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デポジションレート [m/s]