ノーベル賞技術「光コム」で実現した高精度3D計測技術をご紹介
XTIAセンサは「世界で最も正確なものさし」と呼ばれるノーベル賞技術 光周波数コム（光コム）をコア技術としています。XTIA はこの独自のレーザー技術を活用し、モノづくりシーンに高速かつ高精度の3D計測＆Quality 4.0 ソリューションを提供します。
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このカタログについて
| ドキュメント名 | 【技術紹介】XTIAの“光コム”技術 |
|---|---|
| ドキュメント種別 | ホワイトペーパー |
| ファイルサイズ | 1.8Mb |
| 取り扱い企業 | 株式会社XTIA (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
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このカタログの内容
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XTIAの”光コム”技術
高速・高精度な3次元計測を可能とする光コム３Dスキャナ
XTIAセンサは「世界で最も正確なものさし」と呼ばれ
るノーベル賞技術 光周波数コム（光コム）をコア技
術としています。XTIA はこの独自のレーザー技術を
活用し、モノづくりシーンに高速かつ高精度の 3D 計
測 ＆ Quality 4.0 ソリューションを提供します。
XTIAセンサは最速毎秒 50万データポイントを
取得できます。これにより従来の接触式3次元
測定よりも大幅に高速なスキャンを実現します。
中・大型部品で現実的なサイクルタイムでの自
動インライン３Ｄ検査に用いることが可能とな
ります。
XTIAセンサは独自の同軸光学系で従来の光学セ
ンサの障害となっていた照明の影の影響を回避
します。長い作動距離を持ち、穴や溝の奥の欠
陥を検査することができ、シリンダーヘッド、
バルブボディ、ディスクローターなどの複雑な
部品の完全な3Dプロファイルを提供します。
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XTIAの光コムセンサは1μmという高いｚ解像度を
実現しています。従来の接触式プローブと異なり、
XTIAの3Dセンサでは、へこみ、キズ、反り、バリ
など、広範囲の3D微小欠陥を検出し、定量的な情
報を提供できます。製造された部品の品質評価の
信頼性を高め、生産プロセスを合理化します。
XTIAの光コムセンサは独自の干渉計による検出
システムを採用しており、画像センサなどで特
に問題となりがちな外乱光やハレーションの影
響を受けることを防ぎます。これにより、XTIA
センサはあらゆる光環境の製造現場での使用に
最適です。
Optocomb Suite
XTIAは光コム技術を最大限に活用する包括的なソフトウェア Optocomb Suite を提供してい
ます。3D可視化、GD&T解析、微小欠陥検出、自動外観検査、寸法検査などの柔軟なツール
ボックスを提供しています。
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Links & Resources • カタログ [pdf]
• 光コム技術の紹介 [動画]
• XTIA製品ラインアップ [動画]
• 検査ソフトウェア Optocomb Suite [動画]
• 事例1シリンダーヘッドの検査 [動画]
• 事例2キズ・バリの検査 [動画]
xtia.co.jp • 事例3バルブボディの検査 [動画]
3D Metrology and Quality 4.0 Solutions
株式会社XTIA（クティア）
〒140-0002
東京都品川区東品川3-32-42 ISビル 2階
TEL：03-6380-9807
URL：https://xtia.co.jp/
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