非接触ICカード、NFCタグIDリード対応 LF帯・HF帯共振周波数検査機 T8200PRO

LF帯・HF帯共振周波数検査機 非接触ICカード、NFCタグIDリード対応 誰でも使える“使い勝手”はそのままに T8200シリーズは進化しています T8200PRO本体 【製品タイプ】 T8200PRO 標準タイプ （スタンドアローン用） T8200PRO DIOタイプ （外部制御用） ※仕様・外観は予告なしに変更される場合がありますのであらかじめご了承下さい。 ＩＣカード検査装置のトップリーダー 株式会社テストラム

製品特徴 多岐にわたるアプリケーション  非接触ICカード、NFCタグの共振周波数検査 ・通信機能（オプション） で固有IDを読み取り検査結果を トレーサビリティ管理 ・IC動作時での（高パワー印加）共振周波数検査 ・IC実装前のRFIDアンテナ自己共振周波数検査 ・透過特性と反射特性の２種類の測定方式  RFIDリーダ・ライタアンテナの共振周波数検査  ワイヤレス給電の自己共振周波数検査 通信機能用プローブ（別売）  パワーインダクタ、超音波センサ等受動素子の 自己共振周波数検査 検査原理：検査用プローブと検査対象（非接触ICカード、NFCタグ）を磁界結合させ 周波数スイープして透過特性または反射特性を検査します。 方向性結合器 LF・HF出力端子 検査対象(非接触ICカード、RFIDタグ) 信号源 UHF出力端子 反射 検査用プローブ(別売)入力端子 磁界 パソコン 検波回路 透過 同軸ケーブル(付属)USBケーブル(付属) T8200PRO本体 測定画面 PASS/FAIL判定 共振周波数 減衰量 Q値 通信PASS/FAIL判定 ユニークID

システム構成 DIO機能付(オプション)の場合 LF・HF出力端子 PLC 検査用プローブ(別売) Testram 入力端子 同軸ケーブル（付属） 本機 PC USBケーブル(付属) ※PCとPLCは製品構成に含まれません。 製品仕様 測定方式 磁界結合による非接触共振周波数測定 測定内容 透過電圧または反射電圧の振幅 検査項目 共振周波数、減衰量、Q値、固有ID(UID、IDm)読み取り ISO14443A(MIFARE Classic, MIFARE Ultralight) ID読取対応プロトコル （オプション） ISO14443B, FeliCa 注1) ISO15693(Tag-it HF-I Plus/Pro, I・CODE SLIX2) 測定ポイント数 100～2048ポイント 検査時間 注2) ID読取検査なし：0.5 sec(typ) (HF帯測定ポイント数=1000の場合) ID読取検査あり：1 sec(typ) 検査ログファイル(csv形式のテキストファイル)： 検査結果・検査波形保存機能 検査時刻, ID, PASS/FAIL, 共振周波数, 減衰量, Q値 波形データ：.csv, .jpgファイル 周波数範囲 10 KHｚ ～ 1200 MHz 印加パワー（＠50Ω負荷） －30～+15 dBm DIO回路形式 絶縁（フォトカプラ）入出力 PC（OS） Windows7, Windows8.1, Windows10 システム要件 USBケーブル2.0以上 電源 USBバスパワー（消費電流500mA以下） 本体、USBケーブル、同軸ケーブル（500mm 2本）、 付属物 インストールCD 125(W)×165(D)×40(H) mm（コネクタ含まず） 寸法、重量 0.8kg 注1）「Tag-it HF-I」はTEXAS INSTRUMENTS社、「I・CODE SLI」及び「MIFARE」はNXP Semiconductors社、 「FeliCa」はソニー株式会社の登録商標です。 本機はRFIDリーダ・ライタではありません。検査対象の通信性能を評価することを目的とした機器ではありません。検査 対象によっては、IDが読み取れない場合があります。また、ISO14443BについてはPUPIリードになります。 注2）検査時間は、ご使用のPCや本機の検査設定内容、検査対象の特性等に依存します。

検査機能紹介 1）非接触ICカードの共振周波数検査 ICカードによっては、低パワー印加時と高パワー印加時で共振周波数が 異なるものがあります。 本機では、印加パワーを-30 dBmから+15 dBmの範囲で設定できますので、 ICカードに搭載された半導体チップが通信動作するような高印加パワー時の 共振特性を確認することができます。 T8200PRO 検査用プローブ ICカード 方向性結合器 入射波 Z 出力端子0 検査対象ICカード 信号源 L1 L0 C0 R0 反射 入力端子 検波回路 Z0 透過 透過波 透過特性 印加パワー 0 dBmで検査 印加パワー +13dBmで検査 検査ログはcsv形式のテキストファイルで保存されます。オプションの通信機能でIDも確認可能。

2）RFIDアンテナの自己共振周波数検査 本機では、IC実装前RFIDアンテナ（低損失）の自己共振周波数の検査も可能です。 IC実装前のRFIDアンテナ自己共振周波数検査結果例 3）RFID以外の自己共振周波数の検査 本機の検査対象は非接触ICカード・RFIDに限りません。 プローブを検査対象に接続して透過特性・反射特性を検査することも可能です。 ※検査用プローブは別途必要です。 パワーインダクタ 方向性結合器 LF・HF出力端子 信号源 UHF出力端子 非接触給電コイル DUT 検査対象 反射 入力端子 検波回路 透過 超音波センサ T8200PRO本体 株式会社 ■【本社】 〒561-0871 大阪府豊中市東寺内14-29 ☎06-6821-3557 Fax06-6821-3561 テストラム ■【東京支店】〒102-0071 東京都千代田区飯田橋1-12-1 ☎03-3515-6416 Fax03-3515-6417 http://www.testram.co.jp 2017.05