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電極直径5マイクロメートル 低い侵襲性による神経計測
・VLS成長法 シリコンウィスカ結晶成長技術によるマイクロニードル製法
・神経電極 メタル配線、パリレン膜絶縁、先端開口でシングルユニット記録
・パッケージング 計測用途に合わせた電極パッケージング
このカタログについて
| ドキュメント名 | 低い侵襲性による神経計測 Toyohashi Probe |
|---|---|
| ドキュメント種別 | 製品カタログ |
| ファイルサイズ | 352.1Kb |
| 登録カテゴリ | |
| 取り扱い企業 | 国立大学法人豊橋技術科学大学 (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
