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これからは非接触・非破壊・顕微で測定時間1秒！
顕微分光を用いた微小領域での絶対反射率測定により、高精度な膜厚・光学定数解析が可能な装置です。
各種フィルムやウェーハ、光学材料などのコーティング膜の厚みや多層膜を非破壊・非接触で測定できます。測定時間は1秒/pointの高速測定が可能で初めての方でも簡単に光学定数の解析ができるソフトウェアを搭載しています。
このカタログについて
| ドキュメント名 | 【測定時間1秒！】顕微分光膜厚計 OPTM series |
|---|---|
| ドキュメント種別 | 製品カタログ |
| ファイルサイズ | 1.8Mb |
| 登録カテゴリ | |
| 取り扱い企業 | 大塚電子株式会社 (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
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