テラヘルツ分光測定にエリプソメトリの技術を導入した、新しいテラヘルツ分光装置です。
反射光学系の採用により、不透明な材料の測定に最適です。
【主な特徴】
■キャリア濃度・移動度を非破壊・非接触で測定
■テラヘルツ領域の複素誘電率を計測可能
■液体試料も測定可能
■解析用ソフトウェア:THz Analysisを標準搭載
■レーザーの外部入力が可能なシステムを構築
このカタログについて
ドキュメント名 | テラヘルツ分光装置 |
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ドキュメント種別 | 製品カタログ |
ファイルサイズ | 918.4Kb |
登録カテゴリ | |
取り扱い企業 | 日邦プレシジョン株式会社 (この企業の取り扱いカタログ一覧) |