あらゆる画像データから粒径や形状係数を数値化。粉体の解析と管理に特化した、真に実用的な粉体用画像解析ツール。
JIS Z8827-1 静的画像解析法に準拠した粒子径画像解析ソフトウェア Mac-View。粉体の解析と管理に特化した汎用的ソフトウェアのため、SEM, TEMだけでなく、あらゆる粉体のデジタル画像データが使用可能です。画像さえあれば高額な設備投資は一切不要で、凝集粒子の１次粒子径の評価や、ナノ粒子の解析も実施出来ます。
【特徴】
・ナノ粒子の評価。画像データにスケール情報があれば粒子径を問わず解析が可能です。
・凝集粒子の１次粒子径の解析。ソフトウェア上で使用可能な多数の粒子認識ツールを応用し、従来困難であった凝集粒子の１次粒子径評価も可能です。
・多角的な解析と評価。粒度分布の自動計測、粒子形状（円形度係数やアスペクト比など）の数値化が可能です。
・ソフトウェアの操作に特別な知識は不要。オペレータの習熟度を問いません。
・高額な設備投資は不要。デジタル画像データ（jpg, bmp）があれば、PCにソフトウェアをインストール後、すぐに解析を開始出来ます。
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このカタログについて
| ドキュメント名 | 【粒度分布】画像解析式粒度分布測定ソフトウェア Mac-View |
|---|---|
| ドキュメント種別 | 製品カタログ |
| ファイルサイズ | 2.8Mb |
| 登録カテゴリ | |
| 取り扱い企業 | 株式会社マウンテック (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
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