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弊社が培ってきた成膜技術、精密洗浄技術、光学測定技術、分析評価技術を活かして様々な仕様（波長、入射角、基板材質など）で1品の試作から量産まで対応いたします。
このカタログについて
| ドキュメント名 | 薄膜製品（コーティング）・受託加工 |
|---|---|
| ドキュメント種別 | 製品カタログ |
| ファイルサイズ | 962.4Kb |
| 登録カテゴリ | |
| 取り扱い企業 | 株式会社オプトクエスト (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
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このカタログの内容
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Optoquest Co., Ltd.
薄膜製品（コーティング）・受託加工
弊社が培ってきた成膜技術、精密洗浄技術、光学測定技術、分析技術を活かして様々な仕
様（波長、入射角、基板材質など）で1品の試作から量産まで対応いたします。
波長 紫外域、可視域、近赤外域
蒸着材料 誘電体酸化物 (TiO2、Ta2O5、Nb2O5、Al2O3、SiO2等)、
金属(Au、Cu、Cr、Ni、Ti、Pt等)
蒸着方式 EB(電子ビーム)蒸着、イオンアシスト蒸着等
蒸着対象 結晶(LN、サファイア等)、ファイバ端面、ファイバアレイ端面、
各種ガラス(BK7、石英等)
ﾌｨﾙﾀ種類 ダイクロイックミラー、UV・IRカットフィルタ、ビームスプリッタ、
等色関数フィルタ、反射防止膜(AR)、高反射膜(HR)、光通信用多層膜等
洗浄 コート 測定・評価 検査
2020.08.31 63
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Optoquest Co., Ltd.
耐パワーダイクロイックミラー SWPF_590/1180nm
透過帯 _45deg 抑圧帯
100 5
98 45度_P偏光 4
45度_S偏光
96 3
45度_S…
94 2
92 1
90 0
570 590 610 630 650 670 1020 1070 1120 1170 1220
波長[nm] 波長[nm]
【耐パワー性能例】
透過率：T＞99%@590nm
反射率：R＞99%@1180nm
入射角：AOI=45°
試験条件：
波長：1120nm
ビーム径：φ150μm（ガウシアン） ※CW光
照射角度：45°
試験結果（損傷閾値）：10時間連続照射で損傷無し
（76kW/cm2程度）
ファイバ端面反射防止膜(AR) 結晶端面反射防止膜(AR)
AR_532&1064nm_0deg
ファイバー端面AR_1050-1300nm
2 2
1.8 1.8
1.6
1.6
1.4
1.4
1.2
1.2
1
1
0.8
0.8
0.6
0.6
0.4
0.4
0.2
0.2
0
0
450 550 650 750 850 950 1050 1150
950 1050 1150 1250 1350 1450
波長[nm]
波長[nm]
2020.08.31 64
反射率[%]
透過率[%]
反射率[%]