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排ガス粒子数計測装置 PMS-T2

製品カタログ

本粒子数計測装置、排ガス中の微粒子数を計測する装置です

ダイリューショントンネルより、サンプルした排ガスの揮発性粒子を 99%以上除去し、固体粒子数を1秒ごとに計測します。オプションのサンプル導入部(サイクロン付)RP1を使用することにより、2.5μm以上の粒子を除去することができます。

◆Euro 5b/6u対応型と良好な相関を実現し、廉価
◆ソニックノズルによる高精度な100倍排ガス粒子の希釈
◆キャスター付きで可搬可能

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ドキュメント名 排ガス粒子数計測装置 PMS-T2
ドキュメント種別 製品カタログ
登録カテゴリ
取り扱い企業 株式会社司測研 (この企業の取り扱いカタログ一覧)

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このカタログの内容

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MODEL PMS-Tシリーズ 粒子数計測装置 サンプル導入部 RP1(オプション) MODEL PMS-T 本粒子数計測装置は,排ガス中の微粒子数を計測する装置です. ダイリューショントンネルより,サンプルした排ガスの揮発性粒子を 99%以上除去し,固体粒子数を 1秒ごとに計測します.オプションのサンプル導入部(サイクロン付)RP1を使用することにより, 2.5μm 以上の粒子を除去することができます. 構成は,第一希釈装置,流量測定部,揮発性粒子を除去するエバポレーションチューブ,第二希釈器 及び,粒子数をカウントするシングルカウント凝縮粒子カウンターが搭載されています. サンプルラインは,粒子の損失を避ける設計を行っています. ❑ Euro5b/6対応型と良好な相関を実現し,廉価 ❑ ソニックノズルによる高精度な 100 倍排ガス粒子の希釈 ❑ キャスター付きで可搬可能
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仕 様 約 1L/min 定格サンプル流量 RP1 サンプル導入部(オプション)使用時は約 10L/min (8~9L/min はダイリューショントンネルにリターン) サンプル位置 ダイリューショントンネル内 希釈率 100 倍 固体粒子径 約 0.015μm <~<1μm 測定範囲 30nm 0.95 fr(30nm): < < 1.3 fr(100nm) VPR 固体粒子低減係数 (塩粒子による) 50nm:0.95 fr(50nm)< < 1.2 fr(100nm) VPR 入り口から粒子を入れたとき 揮発性粒子除去率 99.0%以上(テトラコンタン粒子による) 1×103 個/cc< 1×107 個/cc 測定粒子数 (本装置入口において) 応答速度 T90 ≦ 20 秒 寸法・電力 570W×630D×1,130H 180kg AC100V 20A フロー図 オプション 揮発性粒子発生装置,固体粒子発生装置,静電微粒子分級装置及び,校正用粒子カウンター等. 仕様につきまして変更する場合がございますのでご了承ください。 090513 株式会社 司 測 研 代理店 〒158-0087 東京都世田谷区玉堤 1-19-4 TEL (03)3703-4391 FAX (03)3705-0756