産業用SSD M.2 2280 NVMe シリコンパワーMEC3K0Eシリーズ

製品の特徴 • 高品質の 3D TLC NAND フラッシュ技術搭載 • インダストリアル規格 NVMe1.3 準拠の PCIe Gen3x4 • グローバルウェアレベリングと初期不良ブロックの検出 • TRIM、NCQ、DEVSLP コマンド対応、PCIe Gen1.0/2.0/3.0 インターフェイスをサポート • 製品寿命の向上 Direct-to-TLC と SLC キャッシュ向上により、WAF 最適化を実現 ブロック/ページ RAID 機能でデータ復旧を確実に • 高信頼性インダストリアルグレードの統合アクティブ PMU および OVP、OCP、サージ除去、短絡保護を備えた完全な保護設 計 • ダイナミック SLC キャッシュ • ガベージコレクションと TRIM データセット管理 コマンド • グローバルウェアレベリングアルゴリズムによって P/E サイクルを平均化する • パワーシールド FW アーキテクチャにより電断耐性を確保 • AES256 暗号化および TCG Opal2.0 準拠(ご要望に応じて) • SP SMART Toolbox 対応 • SP SMART Embedded と SMART IoT サービス対応 (ご要望に応じて)

製品概要 • 容量：64GB,128GB, 256GB, 512GB, 1TB • フォームファクタ：M.2 2280 PCIe Solid State Drive (80 mm x 22 mm x 3.5 mm) • インタフェース：PCIe Gen3x4 (Gen1/2/3 準拠) • コマンドセット：NVMe1.3 standard command protocol • 性能： 64GB 128GB 256GB 512GB 1TB シーケンシャルリード (MB/s Max.) 1545 2250 2580 2580 2400 シーケンシャルライト (MB/s Max.) 360 600 1100 1960 1600 ランダム 4K リード (IOPS Max.) 81000 TBD 81000 170000 295000 ランダム 4K ライト (IOPS Max.) 86000 TBD 97000 198000 210000 *仕様と容量によって実際のパフォーマンスは異なります • 動作温度範囲： 通常：0°C to 70°C 拡張：-15°C to 85°C (by request) 拡張：-40°C to 85°C (by request) • 保存温度範囲：-55°C to 95°C • 動作電圧：3.3 V ± 10% • 消費電力： (単位: mA) 64GB 128GB 256GB 512GB 1TB 読み出し (Max.) 1060 TBD 930 TBD TBD 書き込み (Max.) 1700 TBD 1500 TBD TBD スタンバイ (平均) < 280 TBD < 200 < 200 < 200 *仕様と容量によって実際の数値は異なります • データ保存 @40 °C : 製品使用初期 10 年、寿命近く 1 年 • 耐久性(TBW) : (単位: TB) Workload 64GB 128GB 256GB 512GB 1TB Sequential (est.) 66 133 265 530 1061 Enterprise (est.) TBD TBD TBD TBD TBD TBW 計算公式 TBW = (Capacity x PE Cycles) x (1+OP) x (WLE) / (WAF) OP (Over Provision) = (Physical Capacity / Logical Capacity)-1 WAF = Write Amplification Factor WLE = Wear Leveling Efficiency Workload または使用したデータサイズとアクセスレートによって異なる可能性があります Sequential workload：VDBENCH スクリプトにより生成され、テストされます Enterprise workload：JESD219A の定義に従い、VDBENCH スクリプトにより生成され、テストされます • 環境試験(IEC-60068) : 振動 : 15G, 10 ~ 2001Hz 落下 : 76cm 衝撃 : 1,500G@0.6ms • LDPC ECC engine と Block/Page RAID による 3K PE cycles の信頼性を確保します • MTBF > 2,000,000 時間 • データ信頼性：Non-recover Read (UBER) ≤1016 • 厳密な品質管理と保証 100％NAND フラッシュ選別 高耐久性製品設計で 3D NAND 製品を提供する 設計仕様を満たすため、各生産ロットで高温/低温のダイナミックバーンインテストを実施して、生産品質をモニターします 国際規格 IEC-60068/61000 に準拠した信頼性基準