中国の光学機器の大手メーカーであるSHINE OPTICS社の高品質で低価格なレーザー平面干渉計G100Mをご紹介します
100mmの有効開口を備えたG100Mは、正立式構造を採用し平面部品の平置き測定・高精度測定に適します。
高性能で長寿命のレーザー・高解像度の光学系・1～6倍の画像拡大機能・精密な平面標準ミラーなど最先端の技術を結集して高精度な平面光学部品の測定を実現します。
位相シフト干渉縞解析ソフトウェア「Sirius」を搭載し測定精度と効率を向上します。
測定デモやお客様のニーズに合わせたカスタマイズのご相談などお気軽にお問い合わせください。
このカタログについて
| ドキュメント名 | レーザー平面干渉計G100M |
|---|---|
| ドキュメント種別 | 製品カタログ |
| ファイルサイズ | 12.8Mb |
| 登録カテゴリ | |
| 取り扱い企業 | 株式会社渋谷光学 (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
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このカタログの内容
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レーザー平面干渉計G���M
中国の光学機器の大手メーカーであるSHINE OPTICS社の
高品質で低価格なレーザー平面干渉計G���Mをご紹介します。
詳細は
���mmの有効開口を備えたG���Mは、正立式構造を採用し平面部品の平置き測定・高精度測定に適します。 こちら！！
高性能で長寿命のレーザー・高解像度の光学系・1～6倍の画像拡大機能・精密な平面標準ミラーなど
最先端の技術を結集して高精度な平面光学部品の測定を実現します。
また位相シフト干渉縞解析ソフトウェア「Sirius」を搭載し測定精度と効率を向上します。
測定デモやお客様のニーズに合わせたカスタマイズのご相談などお気軽にお問い合わせください。
型番 G100M 測定方法 フィゾーの干渉原理
有効通光口径 101.6mm 光源 He-Neレーザー
カメラ 1/1.2インチ, 有効画像数1.2K×1.2K 横解像度 全口径分解能ストライプ数＞300セット
光学ズーム連続可変1X-6X
測定モード Sirius耐振機械位相シフトFPSIとPSI 変倍Zoom
小サイズも正確に測定できます。
RMS簡易繰り返し性 RMS波面繰り返し性
＜λ/3000 ＜0.6nm
(2σ) (mean+2σ)
高速デジタルアライメントシステムDAS
アライメント方式 瞳焦点調整範囲 ±2.5M
アライメント角度±3°
平面透過基準レンズ 石英、PV＜λ/20 平面反射基準レンズ 微結晶、PV＜λ/20
システム精度 PV＜λ/20 電源 100-240VAC, 50/60Hz
干渉キャビティ内寸法 機器寸法
540×360×360mm 640×400×1100mm
(長さ×幅×高さ) (長さ×幅×高さ)
作業環境温度 15℃-30℃ 湿度 ≤ 70%
温度変換 ＜0.5℃/h 機器重量 90KG
機械位相シフト測定モードの時は
防振 品質基準 GJB/J6221-2008
受動防振システムを使用してください。
当社にて測定デモが可能ですのでお問い合わせください。
株式会社渋谷光学 〒351-0111 埼玉県和光市下新倉3丁目22番2号
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