【異物分析・材料判別に最適】卓上走査電子顕微鏡　JCM-7000

異物分析・材料判別に最適なデスクトップツール 製品に混入、または付着した異物の分析は、混入経路の解明や故障原因の解明において 重要な情報になります。卓上走査電子顕微鏡 JCM-7000 は光学顕微鏡と合わせて利用 することで異物の形態観察はもちろん、同時に元素情報も得られるため異物への迅速対 応が可能です。 異物の発見から組成情報までリアルタイムに情報収集 TM JCM-7000 光学顕微鏡と合わせて利用すれば色情報を把握しながら異物を確認でき、 同時に色だけでは分からない異物の元素組成が分かります。 【例】食品に付着した黒色異物の分析 光学顕微鏡像 SEM像（反射電子組成像） O 粉体① 粉体① C Fe Si Fe Al 拡大 粉体② O Si 粉体② C Al 500 µm 光学顕微鏡で異物を観察すると 同一視野をSEMの反射電子組成像で観 2種類の粉体を、それぞれ画面いっぱいに 細かい粉体であることが分かります 察し、拡大すると輝度の違いから2種類 拡大すれば、元素分析装置（EDS）を起 の粉体があることが分かります 動しなくても、主元素のスペクトルが表示 されます 異物への迅速なアプローチを実現する2つの機能 機能1：Zeromag*1 Zero 試料：岩塩 mag 光学像を拡大するとそのまま SEM像に切り替わります。 500 µm 10 µm 機能 2：Live Analysis*2 L Ainvaelysis 観察中に、その視野の主元素が分かる Live Analysis が搭載されています。 *1 Zeromag（光学像）の撮影には、ステージナビゲーション システム（オプション）が必要です *2 EDS元素分析装置（オプション）が必要です

異物分析・材料判別に最適なデスクトップツール 試料に混入、または付着した異物の分析は、混入経路の解明や故障原因の解明において重要な情報になります。エネルギー分散形蛍光Ｘ 線分析装置（XRF)JSX-1000Sは有機物/無機物の判別が非破壊・短時間で可能なことから異物の初期対応装置として最適です。無機物 であればステンレス、歯科材料、ガラスなど材料の推定が容易です。 ガスクロマトグラフ質量分析計JMS-Q1500GCを用いると有機物をより詳細に分析し、さらに推定結果の絞り込みが可能です。 有機物/無機物の非破壊・迅速判定に 有機物の精密分析に JSX-1000S JMS-Q1500GC エネルギー分散形蛍光Ｘ線分析装置 ガスクロマトグラフ質量分析計 ■ 黒色異物（樹脂片） 有機物と推定できる(Q-base) JMS-Q1500GCでは、前処理装置で有機物を熱分解することで、 より詳細な分析を行うことができます。 JSX-1000Sでの分析の結果、有機物と推定された黒色異物(樹脂 200 片)についても質量分析計を利用して熱分析することで、Q-base による推定結果をさらに絞り込むことが可能になります。 150 以下に示した結果は、Q-baseにより第1および第2候補として示さ れたPE(ポリエチレン)とPS(ポリスチレン)のTICCとなります。 100 50 ■ ポリエチレンの結果 0 0 10 20 30 40 H3C CH2 CH2 CH3 keV n ■ 黒色異物（小石） 酸化物と推定できる(Q-base) 800 600 400 ■ ポリスチレンの結果 200 H3C CH2 CH CH3 0 n 0 10 20 30 40 keV JSX-1000SではQ-base（スペクトルマッチング機能）によりライ ブラリーに既納のスペクトルパターンと相関性の高い順に材質の推 定ができ、このように外見上の判断がしにくい異物について有機物 /無機物の判別が可能です。無機物であればXRFの分析がそのまま 可能です。 ・ 有機物の詳細分析は質量分析計へ ⇒　右側参照　 ・ より微小な範囲の観察と分析ならSEM ⇒　表面参照 ＊外観・仕様は予告なく変更することがあります。 No. 2301H990C (Bn) CPS/mA CPS/mA