走査電子顕微鏡　JSM-IT500 series / JSM-IT500HR

JSM-IT500 series 走査電子顕微鏡 To the next generation 毎日の分析業務を さらに早く！より楽に！ ■ 視野探しを容易にする Zeromag ■ 観察中も常に元素分析結果が表示される Live Analysis* ■ データを一元管理できる SMILE VIEW T M Lab ■ 安全・簡単！ 試料交換ナビ *A/LA バージョンの機能です。 動画で JSM-IT500 を 体感してください ■ Zeromag　ー視野探しを容易にする新機能ー Zeromag は、ステージ位置に連動したホルダーグラフィック画像や CCD 画像 * と SEM 像が連動する新機能です。 光学 CCD 画像 * と SEM 像の境界を意識せず Borderless に操作できるため、作業効率が大幅に向上します。 *CCD 画像撮影には SNS（オプション）が必要です。 光学像拡大 SEM像拡大 SEM像拡大 200 μm 10 μm メイン画面上の Zeromag 画像 Zeromag の特長 ・ 光学顕微鏡感覚の視野移動 ・ 多視野に渡る分析測定予約が可能 ・ 測定済み視野の把握が容易 試料 : 鉄さび 加速電圧 ：25 kV 撮影倍率：×100,000 高真空モード　二次電子像 100 nm

JSM-IT500HR 高輝度電子銃搭載！ 走査電子顕微鏡 Nonstop! 光学像から SEM 高倍率測定へ ■ Zeromag　■ Live Analysis　■ SMILE VIEWTM Lab 3つの機能で 毎日の分析業務をさらに早く！より楽に！ ■ 気付けば ×100,000 の SEM 像 JSM-IT500HR の SEM 像は驚くほど高画質。 ライブ像でもストレスなく×100,000 の画像が得られます。 SEM像拡大 SEM像拡大 光学像拡大 5 μm 100 μm 試料 : サファイア基板上に成長させた酸化亜鉛 100 nm 加速電圧：25 kV 撮影倍率：×100,000　高真空モード　二次電子像 メイン画面上の Zeromag 画像 試料ご提供： 東京電機大学　工学部　電子システム工学科 　　　　　　大倉・篠田研究室 ■ 高速マッピング・長時間マッピングに対応しています 大口径 EDS を装着すれば、高速マッピングに対応できます。 電流が安定しているので、広領域分析の長時間におよぶマッピングや全数検査時の終夜運転が必要な時も安心です。 70秒！ マッピング 結果 200 nm 試料 : カーボン上の金粒子　加速電圧 ：20 kV　撮影倍率：×50,000　マップ取得時間：70 秒 ※ 外観・仕様は改良のため予告なく変更することがあります。 No. 1103C833C (Kp)