光デバイステストソリューション　Laser Diode/TO-CAN/CoC/TOSA/BOSA

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クロマは、テスト＆オートメーションのターンキーソリューションを提供す るメーカーとして、テスト装置や測定装置、自動テストシステム、製造 システムのカスタマイズソリューションを統合し提供しています。 この数年間、私達は半導体のテスト分野の経験を積み上げてきまし た。そのため、ATE、PXIシステムから、ICハンドラーやシステムレベル のテストソリューションに至るまで、半導体テストソリューションに関する 幅広いポートフォーリオを持っております。 ATEとPXIのソリューションでは、コンシューマーSOC（MCU、コント ローラ、オーディオ、ペリフェラル）、パワーマネージメントIC（レギュ レータ、LDO、DC/DC、AC/DC、LEDドライバ）、RF（FEM、コネ クティビティ、モバイル）、その他アプリケーション（CIS、光センサ、 RFID）をカバーします。 また、ハンドラーと自動システムのソリューションでは、温度制御、拡張 デバイスのハンドリング技術、ベアダイのハンドリング、CISターンキーソ リューション、システムレベルのテストソリューションをカバーします。 これらのターンキーソリューションにより、私達クロマは、テスト品質とテ ストパフォーマンスを保ちつつ、テストコスト削減へのベストアプローチを お客様へ提供致します。

半導体自動テスト装置(ATE) クロマの半導体向けATEは、ファブレス、IDM、テストハウスの方々に、最もコスト効果の高いソリューションを提供することを目標に、高スループット、高いマル チサイトテスト能力を実現できる様に特別設計されています。高機能、高精度、パワフルなソフトウエアツール、及び高信頼性を持つ私達のATEは、コン シューマデバイス、ハイパフォーマンスのマイクロコントローラ、アナログデバイス、SoCデバイスをテストするにあたって理想的です。 特長 ☑低コストシステムかつハイパフォーマンス ☑高いマルチサイトテスト能力 SoC MCU ☑試作から量産までフレキシビリティに使用可能 PMIC ☑パワフルなソフトウエアツール ☑省スペースが可能となる小型フットプリント Mixed-Signal ☑他のプラットフォームに直接接続可能なアダプターボードを用意 CHROMAATE Device Wireless Touch Embedded Sensor Flash Consumer Devices SoC / アナログテストシステム Model 3680 ☑最大2048デジタルI/Oピン ☑最大データレート150Mbps ☑パラレルテスト2048DUT ☑最大256MWベクトルメモリ(512MWオプション) ☑最大64チャンネルPMU(高精度DC測定) ☑最大128チャンネルDPS(デバイス電源) ☑プログラム言語 : C#.NET and GUI ☑オペレーションシステム : CRISPro, ☑高密度アナログ/ミックスドシグナルオプション ☑ アプリケーション: Digital, MCU, MPU, Audio & Video, DTV, STB, FPGA 3680 シリーズオプション ☑ LPC128デジタルチャンネルボード ☑ DPS32 デバイス電源 ☑高周波測定HDAVO ☑ HDAWDG AD/DA ボード ☑多チャンネルHDVIアナログ ☑ HCDPS大電流アナログボード HDAVO ボード HDAWDG AD/DA ボード

Selection Guide - SoC/Analog Test System - 1 Selection Guide - SoC/Analog Test System - 2 DPS64 HCDPS HDVI HDAVO HDAWDG V Range 12V/±6V ±4V 70V ~ -40V AWG Sample Rate 1 Msps C Range 1A 32A 200mA 400Msps Channels 64 4 32 DGT 250Msps Slot I/O I/O DPS HF 16 bits 3680 O O O Resolution 20 bits LF 24 bits S : Standard O : Option -- : None Channels 8S8M 32 AWG, 8 DGT, 32 Vref, 32 PPMU Slot I/O DPS 3680 O O Model 3650 3650 シリーズオプション ☑ 640デジタルI/Oピン ☑ PVI100 アナログオプション ☑ 16/32 MWベクトルメモリ ☑ VI45アナログオプション ☑ 2〜20Ch高精度PMU ☑ HDADDAミックスドシグナルオプション ☑ 32Ch高密度DPS ☑タイミングインターバルアナライザオプション ☑ 40本の高圧ピン ☑ Microsoft Windows® 7 /10 OS HDADDA PVI 100 VI 45 Selection Guide - SoC/Analog Test System - 3 Selection Guide - SoC/Analog Test System - 4 DPS HDDPS PMU VI45 PVI100 ADDA HDADDA V Range ±16V ±12V ±16V ±45V ±100V Fs Max 500KHz 500KHz (±50V) Resolution 16 bits 16 bits I Range 800mA 1A 250mA 100mA 2A (4A) Channels 1 32 Channels 16 48 2 32 8 Slot None I/O Slot DPS DPS None I/O I/O 3650 O O 3650 O -- O O O

VLSI テストシステム Model 3380-D Model 3380-P Model 3380 ☑ 50/100MHzクロックレート ☑ 50/100MHzクロックレート ☑ 50/100MHzクロックレート ☑最大256デジタルI/Oピン ☑最大576デジタルI/Oピン ☑最大1280デジタルI/Oピン ☑パターンメモリ32/64/128M ☑パターンメモリ32/64/128M ☑パターンメモリ32/64/128M ☑ パラレルテスト256DUT ☑パラレルテスト512DUT ☑パラレルテスト1024DUT ☑ DPS最大32CH (256 I/O ピン) ☑ DPS最大64CH (512 I/O ピン) ☑ DPS最大192CH (1024 I/O ピン) MLDPS16 MXLPC 64×4 4 Flexible slots (VI option) IO pins (IO/AWI/VI, etc) MXBUS×1 MXPG3×1 MXPMU×1 UR+I/F (AUX Power) フレキシブルな構成 Selection Guide - VLSI Test System - 1 ☑フレキシブルなスロットは、I/O、UVI、ADDA、 MXAWI MAWI2 PXIeなど幅広い機能を差し込み Sample Rate (WD) 250Ksps 2.5Msps ☑ 3380-D : 4 slots Resolution 16 bits 24 bits 3380-P : 9 slots Channels 4 AWG+4 DGT 4 AWG+4 DGT 3380 : 20 slots Slot I/O I/O ☑時間、周波数測定ユニット 3380D O O 3380P O O 3380 O O Selection Guide - VLSI Test System -2 MXDPS MXUVI MXREF MLDPS MLDPS-16 MDDPS Remark V Range ± 16 V ± 12 V ± 48 V 12 V/± 6 V 12 V/± 6 V -6V~+18V -- ±125mA/±250mA/ C Range ± 2 A ± 1 A ± 250 mA ± 1 A (± 6V) ± 1 A (± 6V) -- ±500mA Channel 8 /board 16 /board 16 /board 32 /board 16 /board 64 /board -- Slot S slot S / IO slot S / IO slot S / IO slot S / IO slot S / IO slot -- 1 -S/2CH 4 wires VI Yes Yes Yes Yes Yes Yes (MLDPS) Current Gain None Yes (4A) Yes (1A) Yes (32A) Yes (16A) Yes (32A) -- 3380D O O O O S O -- 3380P O S O O O O -- 3380 O O O O O O Flexible S : Standard O : Option -- : None

PXIe/PXI IC テストシステム 高速PXIeデジタルIOカード Model 33010 ☑標準PXIeバスコネクタ ☑最大100MHzクロックレート ☑ボードあたり32チャンネル ☑ 1つのシャーシで最大256チャネルまで拡張可能 Digital IO Card ☑任意のサイトへの任意のピン 33010 ☑ボードごとのシーケンサーアーキテクチャ （複数のタイムドメインがサポートされています） ☑追加電源A330101（オプション） ☑ 1つのA330101電源装置は最大200Wを サポート（4個の33010デジタルIOカード） Demo board Additional Power Supply (option) A330101 (option) プログラマブルデバイス電源 高電圧デバイス ユニバーサルリレードライバー Model 33020 電源 制御モジュール ☑8つ高精度DPSチャネル Model 33021 Model 33011 ☑ -6V〜12V独立プログラムブル電圧レベル ☑ 2つの高精度48V高電圧DPSチャンネル ☑半導体ロードボード用のPXI-eベースの ☑各チャンネルは最大250mA ☑ -12V~48V独立プログラムブル電圧レベ ユニバーサルリレー制御 （6Vで500mA）の電流提供 ☑各チャンネルは最大250mAの電流提供 ☑ 32CHダイレクトリレードライバー ☑ 最大4A電流Gang機能提供 ☑最大500mA電流Gang機能提供 ☑ 2レーンSPI拡張可能リレー制御 （カードごと） ☑ 18-bit高分解能電圧変換 インターフェース ☑リレー制御用5V @ 100mA ☑ロードボード周辺機器用 - 3.3V and 5V @ 0.6A - ±12V @ 0.75A 6スロットシャーシ(オプション) 9スロットシャーシ(オプション) 18スロットシャーシ(オプション)

ピック＆プレースハンドラー- ファイナルテストとシステムレベルテスト ファイナルテスト（FT） ファイナルテストは、お客様へ製品を出荷する前に実施されるテストです。テストパターンを用い、デバイスのファンクションや電気的特性が、要求される 仕様と合致するかどうかをテストします。テストの目的は以下の通りです。 ☑製品設計通りか確認すること ☑高品質を実現すること ☑製造の品質をコントロールすること ☑製造歩留りを絶えず改善すること 3温度フルレンジファイナルテストハンドラー Model 3110 Model 3110-FT -40℃~150℃ -40℃~125℃ 150 100 50 0 -40 125 100 ℃ 50 0 -40 Tri-temp chamber ℃ Model 3160C Model 3160A/3180 -55℃~150℃ Ambient~150℃ 150 100 Ambient 0 150 100 50 0 -55 ℃

システムレベルテスト（SLT） 従来のICの後工程では、出荷品質を確保するために、パッケージ化されたデバイスを高速でファンクションテストを行います。ただし、これに よりいくつかの問題が発生します: 【1】 ATE測定とデバイスの実使用環境が異なるため、デバイス品質は、 ATEだけで保証できません。 【2】 ATEはテストプログラム開発に数か月かかるので、市場投入までの時間がかかります。 【3】シリコンのコスト低減に対し、テストコストは増加しています。 システムレベルテストの利点 Wafer IC Module Board 早い市場投入 Cycle Probe Test Final Test System Level Test ☑ ATEテストより早い出荷 ☑デバイスの市場規模を最大化 ☑高い可用性 ICs ICs Wafer コストメリット ☑低生産コスト ☑高効率及び、低テストコスト Probe Card ATE Module Boards Disruptive Process Implement in Semiconductor Test 高い故障検出率 Manual SLT ☑高い歩留まり管理(DPPM管理) ☑高品質管理 ☑自動化により人為ミスなし Wafer Process Assembly & Auto. System Package Function Test ☑システムの適合性検証容易 ☑容易なテスト ☑ソフトとハードの不整合検出容易 Wafer Sort Package Test Shipping ミニ卓上シングルサイトテストハンドラ Model 3111 ☑ IC パッケージ: 5x5 mm to 45x45 mm ☑ソフトウェアでBIN数設定可能 ☑エアダンバーを用いたコンタクト ☑ ICフォースバランスを最適化 ☑テストソケットの寿命を最大化 ☑ダブルスタック保護 ☑継続自動テスト ☑リモート遠隔操作 ☑リアルタイムシステムカメラモニタリング ☑モバイルのアラート通知

Tri-tempシステムレベルテストハンドラ Model 3110 150 100 ☑ 2 in1ファイナルテストとシステムレベルテスト 50 ☑オートトレイのロード/アンロードとデバイスの分類機能 0 ☑接触バランス良好のエアダンパー -40 ☑繰り返し記録型IC チェックファンクション ℃ ☑ tri-temp IC テストファンクション機能 (-40℃~150℃) ☑高出力冷却機能 ☑デバイスエンジニアリングの特性があり、結果収集と分析に最適 SLT handler with module board 150 Model 3260 100 ☑信頼性の高い高速ピック＆プレースハンドラ 50 0 ☑同期したノズルでダブルピック＆プレースのデザイン -40 ☑フローティングヘッドは効果的に接触力のバランスを実現 ℃ ☑ IC残留検出機能 ☑ユニバーサルキットのデザイン ☑ tri-temp システムでSLTテスト分類機能 ☑ TEC制御システムのオプション(-40℃~125℃) ☑コンプレッサー制御システムのオプション 125 (-40℃~150℃) 100 ☑高速な温度上昇及び下降 50 0 -40 ℃ 1 5 0 Model 3200 1 0 0 5 0 ☑複数の組み合わせテストをサポート(6~24 Sites) 0 ☑ Bare dieの正確なバランス接触力 - 7 0 ☑ IC残留物検出機能(Remain) ℃ ☑ ICオリエンタル回転機能(Rotator) ☑混合ロット生産機能 ☑ tri-temp ATC SLT分類機能のオプション 低温 -40℃~150℃, 超低温 -70℃~150℃ ☑ PTC 高解熱テスト分類機能のオプション 150 ☑ TSD のオプション (Temperature Sensing Diode) 100 フィードバック制御 50 ☑高速な温度上昇及び下降 0 -40 ☑ Chroma バーチャル生産ツールのインポート(CVOT) ℃

CIS ターンキーテストソリューション CIS（CMOSイメージセンサー）テストソリューションは、Chroma独自のターンキーソ リューションの1つです。最高なUPHと最適化されたリソースを提供し、機能テストと画像 テストのパフォーマンスと品質を提供します。Chroma統合CISソリューションは、顧客に 最高のCOO（運用コスト）を提供します。 Model 3180-IS ☑より小さなIC（2x2 mm）のpick-and-place機能 ☑ 32 Sites ハイスループットテスト ☑ CIS と ASICテストアプリケーション ☑フローティングヘッドの圧力はプログラムで制御できるテスト ☑ Light sourceのデザインは迅速に変更できる ☑温度制御システムのオプション(Ambient~150℃) ☑ STCM (Socket Temperature Control Module) 機能のオプション LCOS Cell自動光学検査システム Model 7710 ☑パッケージの検査サイズ: 4mm x 4mm ~ 25mm x 25mm ☑ 4つのAOIステーション : -不均一性検査15µm/pixel -裏面検査 10µm/pixel -高解像度光学側面検査 1.5µm/pixel -光学側検査 10µm/pixel ☑ UPH : ≧ 400 @ 100%歩留まり率 - class 1000級 RF統合テストソリューション RF (Radio Frequencyテストは、Chroma独自の統合ソリューションの1つです。地域の電磁両立性（EMC）の電気的安全性および無線周波数曝 露規制に準拠していることを確認するために、最適で安定したテストパフォーマンスと品質を提供します。 Model 3200 ☑ OTA (Over the Air) テストアプリケーション ☑ RFシールド能力≧-60 dB ☑ 8 sites のテストをサポート Model 3260 ☑ OTA (Over the Air)テストアプリケーション ☑ RFシールド能力≧-80 dB ☑ 6 sites のテストをサポート

多彩な温度制御システム Chroma TEC Controller Test Platforms 54100 Series Eco Refrigerant Recirculated Compressor Condenser Thermal Expension Receiver Head Valve High Power TEC Controller High Power High Power High Power 450W/600W Compressor Phase Change Active Thermal Control Active Thermal Control Active Thermal Control Passive Thermal Control Cobra King Cobra Sea Cobra Selection Guide Final Test Handlers Temperture Condition 3110 3110-FT 3160/3160A 3160C 3180 Ambient Ambient O O O O O Hot High ~150℃±3℃ O -- O O O Temperature ~125℃±3℃ O -- O O O (General Heater) Tri-Temperature -40℃~125℃±2℃ O O -- O -- (TEC Control) -55℃~150℃±2℃ O -- -- O -- ATC Tri-Temperature -40℃~150℃±2℃ O -- -- -- -- (Compressor -70℃~150℃±2℃ O -- -- -- -- Control) Selection Guide System Level Test Handlers Temperture Condition 3110 3111 3200 3260 Ambient Ambient O O O O Hot High ~150℃±3℃ O -- -- O Temperature ~125℃±3℃ O O O O (General Heater) Tri-Temperature -40℃~125℃±2℃ O -- -- O (TEC Control) -55℃~150℃±2℃ -- -- -- -- ATC Tri-Temperature -40℃~150℃±2℃ O -- O O (Compressor -70℃~150℃±2℃ O -- O -- Control) Selection Guide Handlers for other applications 3180-IS 3200 3240Q 3270 7710 CIS O -- -- O O Applications RF -- O O -- -- Temperture condition Ambient Ambient O O O O O Hot High ~150℃±3℃ O -- O -- -- Temperature ~50℃±3℃ -- -- -- O -- (General Heater) O : Option -- : None

クロマジャパン株式会社 本社 CHROMA JAPAN CORP. 〒223-0057 神奈川県横浜市港北区新羽町888番地 T +81-45-542-1118 F +81-45-542-1080 関西営業所 〒556-0011 大阪府大阪市浪速区難波中3丁目13番17号 T +81-6-7507-2714 F +81-6-7507-2715 E-mail info@chroma.co.jp HEADQUARTERS CHROMA ATE INC. No. 88, Wenmao Rd., Guishan Dist., Taoyuan City 333001, Taiwan T +886-3-327-9999 F +886-3-327-8898 info@chromaate.com www.chromaate.com © 2015Chroma ATE Inc. All Rights Reserved. L2IS01-CJ2108