不良事前回避や問題個所の早期発見ツール
このカタログについて
| ドキュメント名 | SmartFactory向けビッグデータ解析ソリューション |
|---|---|
| ドキュメント種別 | 製品カタログ |
| ファイルサイズ | 5.2Mb |
| 登録カテゴリ | |
| 取り扱い企業 | Optimal Plus Japan株式会社 (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
この企業の関連カタログ
このカタログの内容
Page1
Optimal+概要紹介
オプティマル・プラス
島田 源
Gen.shimada@optimalplus.com
Page2
Optimal Plus社について
• ビッグデータ解析のツール提供
• エレクトロニクスおよび半導体分野における専門知識
• 製品の分析を通して製造工程への改善を提案（歩留まり向上、不良低減など）
• 2016年は500億を超えるデバイスを解析（チップ、ボード、システム）
• 2005年に設立
• Fortune 100のお客様（nVidia、AMD、NXP、Qualcomm、他）
• 半導体メーカーへの実績からスタートし、現在セットメーカーへアプローチ
• グローバル企業
• R&Dは米国とイスラエル、ワールドワイドのセールス、アプリケーションサポート
• 250名を超える社員
イスラエル, ホロン
イスラエル、米国、フランス、ドイツ、イタリア、
日本、中国、シンガポール、台湾、韓国
© Optimal+ 2017, Proprietary and Confidential 2
Page3
市場背景：テストデータの増加→ビッグ・データ
データベースの巨大化
• 大企業では最大100TB/年
• 過去2年で4倍に増大
データ量の急速な増加が引き起こす・・・
• 保有期間の延長(RMA品対応など)
• 工程の追加(E-test, SLT)
• データログ量の増大
予想されるさらに複雑な処理要求
• データ・マイニング（抽出）
• クロス・オペレーション分析
* メーカーの抱える問題：
- データの統一化、一元管理などができていない。→各工場、工程、装置でデータ形式がまちまち
- データはあるが、活用できてない。
© Optimal+ 2017, Proprietary and Confidential 3
Page4
実績とユーザー
お客様 – 100% カバレージ
500億 Optimal+を通して処理＆承認、
製品 出荷された1年間の製品数
個々のビッグデータの無限
Over 90%
ファウンダリと ストリームをネットワーク化し、
OSATをカバー 単一のビッグピクチャに変換
Up to 2%
量産における歩留まり回復
改善 In Pilot
Up to 30% 従来のテスト時間短縮方法を
短縮 超える
導入 – 90%のWWサプライチェーン
Up to 20% 業務の効率と生産性
改善
Up to 50% テスト不良品流出と市場返却品
削減 の削減
© Optimal+ 2017, Proprietary and Confidential 4
Page5
業界の評価
Frost and Sullivan社から2015年の
Visionary Innovation Leadership
Awardを受賞
CIO Outlook誌による2015年の
Most Promising Big Data Solution
Providers 25のひとつに選定
創業者は元インテルの品質保証部門長
© Optimal+ 2017, Proprietary and Confidential 5
Page6
What we do
Optimal+は、半導体およびエレクトロニクス製品の製造、
検査を最適化するためのビッグデータ分析ソリューション
を提供するリーディング・プロバイダーです
テストデータ ビッグデータ・アルゴリズム 自動メール配信
プロセスデータ マシーン・ラーニング コントロール
部品構成データ 自動化されたルール・エンジン
© Optimal+ 2017, Proprietary and Confidential 6
Page7
あらゆる検査結果へのチャレンジ
Is BAD really Bad? 検査結果
• 誤診断不良品の検出 “良品判定” “不良品判定”
• 歩留まりの向上
Is GOOD really Good? オーバーキル
• 不良品流出防止 &
潜在市場不良品の検出
• 品質&信頼性の向上
Can we Trust the data? 不良品流出
• データの欠落
• 突発的な製造問題
今までにないROIを達成
© Optimal+ 2017 Company Confidential, All Rights Reserved 7
実際の状態
不良ボード 良品ボード
Page8
O+の解析作業
対象とするお客様の部署→ 生産技術部や品質保証部
お客様の生産ライン・サーバーにO+のプログラム導入
製品の生産工程からのテストデータを分析
お客様が得られるもの
• リアルタイムで各工程状況モニタリング
• テスト状況（全ての工場の全工程の）、自動テストデータ分布、
• 各工程の歩留り、異常値の自動警告アラート、など
• 予測による不良問題の事前回避
• 不良品数の削減
• 自動ルール化による生産効率改善
• 不良発生時に短時間で問題個所の発見
• リワーク・リペア削減
• 歩留まり改善
• 新たな製品生産開始後、早期に歩留り向上
ビジネスモデル
• 年間使用料ライセンス（1年毎に更新、メンテナンス・サポート込み）
© Optimal+ 2017, Proprietary and Confidential 8
Page9
使用するデータソース
パラメトリック
データ
マシーン
MES
データ
包括的
製品データ
市場
リワーク
不良
部品
リペア
トレサビ
MES：Manufacturing Execution System
© Optimal+ 2017, Proprietary and Confidential 9
Page10
Optimal+の解析に使用可能なデータ
製品生産の為のデータソース （各プロセス/各装置)
• PCB アセンブリ –接着、接合、半田..
• 外観検査 – AOI（自動光学検査）, AXI（自動X線検査）, SPI
• テスト – ICT：In Circuit Test（ボード電気的テスト）, ボードファンクションテスト
• MES（Manufacturing Execution System）
• リペア/リワーク/不良解析
• 不良廃棄ボード (O+ create the data source)
• 部品構成/トレーサビリティ・データ –ボードID、チップID、ロット番号、デートコード、等
• 製造場所、製造部材、部材経路
全てのレベルのデータと種類
• 装置からの分析生データ（分布図など）
• テスト結果
• 装置センサー
• メカ的なデータ（ねじれ値など）
• ログファイル（過去の履歴）、サマリーデータ、接着材データ
• パス/フェイルデータ、データベース中のデータ
© Optimal+ 2017, Proprietary and Confidential 10
Page11
Optimal+ソリューション全体図
現地工場/サブコンEMS 本部
C工場
B工場 CLIENT APPLICATIONS Inventory Finance
• Analytics
A工場 •Queries
• Rules
• Simulations Billing Supply
MES
AOI/AXI
Manage- Procure
ment ment
Alerts
Guidance & & Linked
Requests Reports
ICT
Test & Process Data 歩留まり変動
アプリケーション
サーバー パラメトリック
シフト
Functional プロキシサーバー
Test
または ステーション間
ファイルサーバー
差異
アウトライヤ
Rework
Bonepile OPTIMAL+ データベース
（クラウドまたはお客様所有） レポート
＊導入後、O+はユーザーのデータは一切見ることはできない。
© Optimal+ 2017, Proprietary and Confidential 11
Instructions
Page12
他社のソリューションとの共存
O+のソリューションは他社のMES, ERP, PLM
SAP、IBM、Oracle やCRMの上に乗り、バッティングしません
NEC、富士通
三菱、Omron
NEC、日立
富士通、NEC
三菱
Optimal+
Voice of Product
三菱
Omron
日立
© Optimal+ 2017, Proprietary and Confidential 12
Page13
参考：O+とMESの位置づけ
O+の解析ソリューションはMESからデータを受け取り、MES上で走る。
MESとはバッティングしない。
各種解析、歩留り向上、不良低減、原因分析、問題個
解析レイヤー O+解析ツール 所特定、テスト時短、自動ルール、アラート配信、歩留
りリアルタイム・モニター、問題事前回避など
スケジューリング、作業手配・管理、工程管理、仕様管
MESレイヤー 管理システム 理、プロセス管理、データログ、設備の保全管理、在
庫管理、仕掛管理、資材管理、調達管理
PLC、テスター、
ハードウエアレイヤー 製造装置、検査装置、シーケンサー、ストレージ、プロサーバー、
セッシング、システムプラットフォーム、通信
ネットワーク
*BIツールとも異なる。BIツールは解析機能を持たない。
© Optimal+ 2017, Proprietary and Confidential 13
Page14
Control Room+：リアルタイム・テスタ情報
量産テストフロア内のテスタ稼働状況をリアルタイムで表示
テストフロア・レイアウトで表示
量産中の不具合を自動検出して通知
アラーム・イベントの経過追跡も可能
テスト結果
不良ビン分類
詳細情報
タッチ
ダウン
サイト間歩留まり
アラーム履歴
© Optimal+ 2017, Proprietary and Confidential 14
Page15
様々なデータの統合：データの一元管理
* 以下全てのデータ形式を扱える
あらゆるソース あらゆるフォーマット フォーマット変換 一元管理
テスター パラメトリックデータ Parser： ビッグ
167dB 32 23 11 678 142
967e-8 112.5 01v P100 O+ツールによる デSーingタle
外観検査 データ形式の統合 解P析oint
Discrete Measurements
装置データ of Truth
PCB
アセンブリ O+ DB
Time Series
MES 工程データ
リペア /
リワーク
品質データ
不良返品 .bin
* 独自OTDFフォーマット
トレース
トレーサビリティデータ LabView によるデータ保護
情報 （高いセキュリティ）
© Optimal+ 2017, Proprietary and Confidential 15
Page16
全ての工程を一元管理可能
本社
APPLICATION
SERVERS
Optimal+ Big Data Highway
各工場、工程で
様々なデータ形式
製造
工場
PROXY SERVER PROXY SERVER PROXY SERVER PROXY SERVER
台湾 中国 メキシコ ブラジル
製造工程の流れ
© Optimal+ 2017, Proprietary and Confidential 16
Page17
あらゆるデータの活用
Optimal+は
Optimal+は
あらゆる機能検査からの
全体的な製品品質のための
すべてのパラメトリック
多次元相関を実行します
データをつなぎます
© Optimal+ 2017, Proprietary and Confidential 17
受入れ
ボード
システム
市場不良
Page18
ユニークな特徴まとめ
世界で唯一のエレクトロニクス製造専用解析ソリューション
データの一元管理
• あらゆるデータ活用
• 電気的データ／メカ的データ
• 異なるデータ形式を独自ツールで統一
• 一元管理
• 複数の工場、工程ラインを1か所にて集中管理
• ２４時間リアルタイムにて全ての工場・工程状況の監視
• ビッグデータ専用データベース
不良問題発生時に迅速な問題個所の発見
問題発生の予測と事前回避
車載分野での実績
• 欧州および米国の車載T1およびボードメーカーへの実績
• 欧州OEMメーカーとの協業
広範囲なサプライチェーンマネジメント
• チップ→ボード→セット
• トレーサビリティ
© Optimal+ 2017, Proprietary and Confidential 18
Page19
分析例
と
過去の実例
19
Page20
データからアクションへの迅速な変換
関連する
データが 分析のため ソース: IDC 2015
利用可能に のデータを 分析 アクション
なるまでの 収集し準備 の実行 の実行
時間 する時間 （マニュアル） （マニュアル）
時間
“問題”の発生 “数週間から数カ月間” 利益の出現
“対応型データ”はデータ洞察のインパクトを最小限に抑えます
分析作業の80％がデータ収集/準備に費やされている
© Optimal+ 2017, Proprietary and Confidential 20
実行されたアクションの価値