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車載T1向け製造ビッグデータ解析ソリューション

製品カタログ

不良事前回避、問題個所発見ソリューション

このカタログについて

ドキュメント名 車載T1向け製造ビッグデータ解析ソリューション
ドキュメント種別 製品カタログ
ファイルサイズ 5.2Mb
登録カテゴリ
取り扱い企業 Optimal Plus Japan株式会社 (この企業の取り扱いカタログ一覧)

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Optimal Plus Japan株式会社

このカタログの内容

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Optimal+概要紹介 オプティマル・プラス 島田 源 Gen.shimada@optimalplus.com
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Optimal Plus社について • ビッグデータ解析のツール提供 • エレクトロニクスおよび半導体分野における専門知識 • 製品の分析を通して製造工程への改善を提案(歩留まり向上、不良低減など) • 2016年は500億を超えるデバイスを解析(チップ、ボード、システム) • 2005年に設立 • Fortune 100のお客様(nVidia、AMD、NXP、Qualcomm、他) • 半導体メーカーへの実績からスタートし、現在セットメーカーへアプローチ • グローバル企業 • R&Dは米国とイスラエル、ワールドワイドのセールス、アプリケーションサポート • 250名を超える社員 イスラエル, ホロン イスラエル、米国、フランス、ドイツ、イタリア、 日本、中国、シンガポール、台湾、韓国 © Optimal+ 2017, Proprietary and Confidential 2
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市場背景:テストデータの増加→ビッグ・データ データベースの巨大化 • 大企業では最大100TB/年 • 過去2年で4倍に増大 データ量の急速な増加が引き起こす・・・ • 保有期間の延長(RMA品対応など) • 工程の追加(E-test, SLT) • データログ量の増大 予想されるさらに複雑な処理要求 • データ・マイニング(抽出) • クロス・オペレーション分析 * メーカーの抱える問題: - データの統一化、一元管理などができていない。→各工場、工程、装置でデータ形式がまちまち - データはあるが、活用できてない。 © Optimal+ 2017, Proprietary and Confidential 3
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実績とユーザー お客様 – 100% カバレージ 500億 Optimal+を通して処理&承認、 製品 出荷された1年間の製品数 個々のビッグデータの無限 Over 90% ファウンダリと ストリームをネットワーク化し、 OSATをカバー 単一のビッグピクチャに変換 Up to 2% 量産における歩留まり回復 改善 In Pilot Up to 30% 従来のテスト時間短縮方法を 短縮 超える 導入 – 90%のWWサプライチェーン Up to 20% 業務の効率と生産性 改善 Up to 50% テスト不良品流出と市場返却品 削減 の削減 © Optimal+ 2017, Proprietary and Confidential 4
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業界の評価 Frost and Sullivan社から2015年の Visionary Innovation Leadership Awardを受賞 CIO Outlook誌による2015年の Most Promising Big Data Solution Providers 25のひとつに選定 創業者は元インテルの品質保証部門長 © Optimal+ 2017, Proprietary and Confidential 5
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What we do Optimal+は、半導体およびエレクトロニクス製品の製造、 検査を最適化するためのビッグデータ分析ソリューション を提供するリーディング・プロバイダーです テストデータ ビッグデータ・アルゴリズム 自動メール配信 プロセスデータ マシーン・ラーニング コントロール 部品構成データ 自動化されたルール・エンジン © Optimal+ 2017, Proprietary and Confidential 6
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あらゆる検査結果へのチャレンジ Is BAD really Bad? 検査結果 • 誤診断不良品の検出 “良品判定” “不良品判定” • 歩留まりの向上 Is GOOD really Good? オーバーキル • 不良品流出防止 & 潜在市場不良品の検出 • 品質&信頼性の向上 Can we Trust the data? 不良品流出 • データの欠落 • 突発的な製造問題 今までにないROIを達成 © Optimal+ 2017 Company Confidential, All Rights Reserved 7 実際の状態 不良ボード 良品ボード
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O+の解析作業 対象とするお客様の部署→ 生産技術部や品質保証部 お客様の生産ライン・サーバーにO+のプログラム導入 製品の生産工程からのテストデータを分析 お客様が得られるもの • リアルタイムで各工程状況モニタリング • テスト状況(全ての工場の全工程の)、自動テストデータ分布、 • 各工程の歩留り、異常値の自動警告アラート、など • 予測による不良問題の事前回避 • 不良品数の削減 • 自動ルール化による生産効率改善 • 不良発生時に短時間で問題個所の発見 • リワーク・リペア削減 • 歩留まり改善 • 新たな製品生産開始後、早期に歩留り向上 ビジネスモデル • 年間使用料ライセンス(1年毎に更新、メンテナンス・サポート込み) © Optimal+ 2017, Proprietary and Confidential 8
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使用するデータソース パラメトリック データ マシーン MES データ 包括的 製品データ 市場 リワーク 不良 部品 リペア トレサビ MES:Manufacturing Execution System © Optimal+ 2017, Proprietary and Confidential 9
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Optimal+の解析に使用可能なデータ 製品生産の為のデータソース (各プロセス/各装置) • PCB アセンブリ –接着、接合、半田.. • 外観検査 – AOI(自動光学検査), AXI(自動X線検査), SPI • テスト – ICT:In Circuit Test(ボード電気的テスト), ボードファンクションテスト • MES(Manufacturing Execution System) • リペア/リワーク/不良解析 • 不良廃棄ボード (O+ create the data source) • 部品構成/トレーサビリティ・データ –ボードID、チップID、ロット番号、デートコード、等 • 製造場所、製造部材、部材経路 全てのレベルのデータと種類 • 装置からの分析生データ(分布図など) • テスト結果 • 装置センサー • メカ的なデータ(ねじれ値など) • ログファイル(過去の履歴)、サマリーデータ、接着材データ • パス/フェイルデータ、データベース中のデータ © Optimal+ 2017, Proprietary and Confidential 10
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Optimal+ソリューション全体図 現地工場/サブコンEMS 本部 C工場 B工場 CLIENT APPLICATIONS Inventory Finance • Analytics A工場 •Queries • Rules • Simulations Billing Supply MES AOI/AXI Manage- Procure ment ment Alerts Guidance & & Linked Requests Reports ICT Test & Process Data 歩留まり変動 アプリケーション サーバー パラメトリック シフト Functional プロキシサーバー Test または ステーション間 ファイルサーバー 差異 アウトライヤ Rework Bonepile OPTIMAL+ データベース (クラウドまたはお客様所有) レポート *導入後、O+はユーザーのデータは一切見ることはできない。 © Optimal+ 2017, Proprietary and Confidential 11 Instructions
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他社のソリューションとの共存 O+のソリューションは他社のMES, ERP, PLM SAP、IBM、Oracle やCRMの上に乗り、バッティングしません NEC、富士通 三菱、Omron NEC、日立 富士通、NEC 三菱 Optimal+ Voice of Product 三菱 Omron 日立 © Optimal+ 2017, Proprietary and Confidential 12
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参考:O+とMESの位置づけ O+の解析ソリューションはMESからデータを受け取り、MES上で走る。 MESとはバッティングしない。 各種解析、歩留り向上、不良低減、原因分析、問題個 解析レイヤー O+解析ツール 所特定、テスト時短、自動ルール、アラート配信、歩留 りリアルタイム・モニター、問題事前回避など スケジューリング、作業手配・管理、工程管理、仕様管 MESレイヤー 管理システム 理、プロセス管理、データログ、設備の保全管理、在 庫管理、仕掛管理、資材管理、調達管理 PLC、テスター、 ハードウエアレイヤー 製造装置、検査装置、シーケンサー、ストレージ、プロサーバー、 セッシング、システムプラットフォーム、通信 ネットワーク *BIツールとも異なる。BIツールは解析機能を持たない。 © Optimal+ 2017, Proprietary and Confidential 13
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Control Room+:リアルタイム・テスタ情報 量産テストフロア内のテスタ稼働状況をリアルタイムで表示 テストフロア・レイアウトで表示 量産中の不具合を自動検出して通知 アラーム・イベントの経過追跡も可能 テスト結果 不良ビン分類 詳細情報 タッチ ダウン サイト間歩留まり アラーム履歴 © Optimal+ 2017, Proprietary and Confidential 14
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様々なデータの統合:データの一元管理 * 以下全てのデータ形式を扱える あらゆるソース あらゆるフォーマット フォーマット変換 一元管理 テスター パラメトリックデータ Parser: ビッグ 167dB 32 23 11 678 142 967e-8 112.5 01v P100 O+ツールによる デSーingタle 外観検査 データ形式の統合 解P析oint Discrete Measurements 装置データ of Truth PCB アセンブリ O+ DB Time Series MES 工程データ リペア / リワーク 品質データ 不良返品 .bin * 独自OTDFフォーマット トレース トレーサビリティデータ LabView によるデータ保護 情報 (高いセキュリティ) © Optimal+ 2017, Proprietary and Confidential 15
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全ての工程を一元管理可能 本社 APPLICATION SERVERS Optimal+ Big Data Highway 各工場、工程で 様々なデータ形式 製造 工場 PROXY SERVER PROXY SERVER PROXY SERVER PROXY SERVER 台湾 中国 メキシコ ブラジル 製造工程の流れ © Optimal+ 2017, Proprietary and Confidential 16
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あらゆるデータの活用 Optimal+は Optimal+は あらゆる機能検査からの 全体的な製品品質のための すべてのパラメトリック 多次元相関を実行します データをつなぎます © Optimal+ 2017, Proprietary and Confidential 17 受入れ ボード システム 市場不良
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ユニークな特徴まとめ 世界で唯一のエレクトロニクス製造専用解析ソリューション データの一元管理 • あらゆるデータ活用 • 電気的データ/メカ的データ • 異なるデータ形式を独自ツールで統一 • 一元管理 • 複数の工場、工程ラインを1か所にて集中管理 • 24時間リアルタイムにて全ての工場・工程状況の監視 • ビッグデータ専用データベース 不良問題発生時に迅速な問題個所の発見 問題発生の予測と事前回避 車載分野での実績 • 欧州および米国の車載T1およびボードメーカーへの実績 • 欧州OEMメーカーとの協業 広範囲なサプライチェーンマネジメント • チップ→ボード→セット • トレーサビリティ © Optimal+ 2017, Proprietary and Confidential 18
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分析例 と 過去の実例 19
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データからアクションへの迅速な変換 関連する データが 分析のため ソース: IDC 2015 利用可能に のデータを 分析 アクション なるまでの 収集し準備 の実行 の実行 時間 する時間 (マニュアル) (マニュアル) 時間 “問題”の発生 “数週間から数カ月間” 利益の出現 “対応型データ”はデータ洞察のインパクトを最小限に抑えます 分析作業の80%がデータ収集/準備に費やされている © Optimal+ 2017, Proprietary and Confidential 20 実行されたアクションの価値