優れた操作性で極微小部を最高の精度で測定 大きなサイズの基盤も測定可能
・ダブルフィルタ採用で最高の精度、最適の条件で測定可能
・測定位置にマウスを合わせることにより敏速な位置合わせを実現
・マルチタスク機能で測定中でもレポート作成を含む他の処理が可能
・コリメータの最小が0.05φmmで極微小部の測定が可能
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このカタログについて
| ドキュメント名 | 蛍光X線式膜厚計 EX-731 |
|---|---|
| ドキュメント種別 | 製品カタログ |
| ファイルサイズ | 1.6Mb |
| 登録カテゴリ | |
| 取り扱い企業 | 株式会社電測 (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
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