LIB（リチウムイオン電池）製造工程へのハイパースペクトルカメラ適応例

LIB製造工程への ハイパースペクトルカメラ適用 （ LIB : Lithium-ion battery リチウムイオン電池 ） 材料検査 電極作製 セル作製 欠陥検査 均一性検査 膜厚測定 異物検査

ハイパースペクトルカメラで出来ること 全ての材料・化合物は特有の分光波形(反射・吸収特性)を持ちます。 ハイパースペクトルカメラは幅広い波長域で分光スペクトルを 非接触で取得し、人の目で出来ない高度な判別・検査ができます。 通常のカメラ画像 波長データの読み取り 解析画像 同じように ハイパースペクトルカメラで 違いが 見える物質 撮影・解析 明らかに！ ハイパースペクトルカメラの測定原理 ●１ラインずつ計測 → 動いてるサンプルをそのまま計測できる ●２次元の分光スペクトルを取得 画素毎の分光データ FXシリーズ サンプル移動による２次元分光測定 測定部位毎の分光データ 波長毎のデータ 移動 ×××nm 〇〇〇nm

ハイパースペクトルの優れている点 2次元カメラ比較 他のカメラと比べて、 ハイパースペクトルカメラにできること 近 可 スペクトルデータの 機器 赤 計測波長領域 出力 視 取得・出力 外 RGBカメラ 〇 × 可視 × RGB値 イメージング 三刺激値（各XYZ値） 〇 × 可視 〇可視のみ 色彩輝度計 スペクトルデータ 近赤外線カメラ × 〇 近赤外 × エネルギー量 ハイパースペクトル 可視 + 近赤外 スペクトルデータ カメラ 〇 〇 〇 （400～1000nm 近辺） ※要スキャニング （CMOSセンサー使用） ハイパースペクトル 近赤外 スペクトルデータ カメラ × 〇 〇 （1000～1700nm 近辺） ※要スキャニング （InGaAsセンサー使用） ●高度な分析 ※要スキャニングの意味 ラインセンサーなので、測定対象物が ●精度の高い検出 ベルトコンベアで動いている状態で計測 ●正確な識別 SPECIMが選ばれる理由 豊富なラインナップ インライン対応 サポート体制 ◼ 幅広い波長帯域に対応 ◼ 小型・軽量・高FPS ◼ 安心の国内サポート ◼ モバイルタイプもサポート ◼ 産業向けプラットフォーム ◼ 充実のコミュニティサイト ◼ ソフトウエアも充実

材料検査 電極作製 セル作製 欠陥検査 均一性検査 膜厚測定 異物検査 欠陥検査 （付着状況の検出・欠陥検査） RGBカメラで撮影した画像では、加工時に付いた油脂の付着状況やコーティング上の キズの見分けは困難だが、ハイパースペクトルカメラの画像では明確に違いが分かる。 RGBカメラ画像 SPECIM画像 油などの汚れの付着状況を可視化 RGBカメラ画像 SPECIM画像 コーティング上の欠陥を可視化

材料検査 電極作製 セル作製 欠陥検査 均一性検査 膜厚測定 異物検査 均一性検査 （電極塗工・乾燥工程でのL*a*b*分布測定） 塗工したスラリーのL*a*b*分布からスラリーの状態をリアルタイムに監視 従来 SPECIM 測色計・水分計 測色計や水分計などによる ハイパースペクトルカメラによる 点計測・抜き取りでの検査 面計測・リアルタイムでの検査 ※測定サイズやインライン設置についてはご相談ください！

材料検査 電極作製 セル作製 欠陥検査 均一性検査 膜厚測定 異物検査 膜厚測定 （透明フィルム・コート剤の膜厚推定） スペクトル干渉から膜厚を非接触で推定 フィルム/コーティングから 正反射光スペクトル 膜厚分布 データ取得 ※対応膜厚目安： FX10(400～1000nm)：1.5～30μm, FX17(900～1700nm)：4～90μm 二次元 従来 (トラバース方式) SPECIM (ライン方式) 取得データに間隔が 全面検査により抜け漏れなく検査ができる 空いてしまう ＝“素早く正確な”フィードバックが可能 駆動部のコスト 駆動部が不要のため低コスト化、 や メンテナンスが必要 メンテナンス性向上に貢献

材料検査 電極作製 セル作製 銅箔検査 スラリー検査 膜厚測定 異物検査 異物検査 RGBカメラ RGBカメラ画像 Paper (異物) 樹脂 樹脂 (異物) Paper (異物) (異物) フィルム （不透明） 電極 課題：フィルムで異物が隠れている SPECIM SPECIM画像 Paper (異物) 樹脂 樹脂 (異物) (異物) Paper (異物) フィルム （不透明） ※画像はイメージです。 電極 フィルムを透過して異物を検出

ハイパースペクトルカメラのシステム構成と仕様 参考：電極の洗浄性評価デモ機 構成 FX17 カメラリンク ケーブル CUBE GigE ケーブル PC スペクトル取得 分類画像生成 (判定) ＆ 表示 仕様 FX10 FX17 測定波長範囲 400 – 1000 nm 900 – 1700 nm 画素数/ライン 1024 pixels 640 pixels 半値幅 5.5 nm（平均) 8 nm (平均) 可視域～近赤外域まで高速測定！ フレームレート 527 FPS (GigE) （ 330 FPS full range) 670 FPS (Camera Link) 産業用および実験室用に設計されています。 波長バンド数 224 bands 224 bands ラインスキャンモードで動作します。 測定波長間隔 約 2.7 nm 約 3.5 nm インライン測定 R&D評価システム 大きさ 150×85×71mm 150×75×85mm 本体質量 1.3kg 1.56kg 使用温湿度範囲 温度: 5~40℃、相対湿度: ~95%、結露しないこと 保管温湿度範囲 温度: -20~50℃、相対湿度: ~95%、結露しないこと ・色彩計測、管理 ・異物の検査 ・化学物質評価 主な用途 ・二次元分光測定 ・水分量推定 ・リサイクル（樹脂、布） ・膜厚評価 ・異物の検査・二次元分光測定 ●このチラシに記載の内容、仕様および外観は都合により予告なしに変更する場合があります。 お気軽にお問合せ下さい！ センシング事業部 https://sensing.konicaminolta.jp 東京営業所 大阪営業所 〒105-0023 東京都港区芝浦1-1-1 〒550-0005 大阪市西区西本町2-3-10 TEL.(03)6324-1010 TEL.(06)6110-0550 名古屋営業所 福岡営業所 〒460-0008 名古屋市中区栄3-1-1 〒812-0007 福岡市博多区東比恵1-2-12 TEL.(052)559-7447 TEL.(092)415-3518