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エリオニクスの新たなENTシリーズ、ENT-NEXUS(ネクサス)誕生。
【ENT-NEXUSの特長】
◆アップグレードやメンテナンスが容易
ユニット追加/交換により安価にアップグレード可能
メンテナンス時のダウンタイムが短い
ユニット単位で今後も開発
◆高いデータ再現性
温度管理機構:シールドケース内を±0.1℃で温度コントロール
高性能除振台搭載:アクティブ除振台を標準装備
◆高精度大型ステージ搭載
100nm/stepステージによる高精度位置決め。
大型ステージ(サンプルサイズ:200x100x50mm)を搭載
◆詳細はカタログをダウンロードしご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
このカタログについて
ドキュメント名 | 【新発売】超微小押し込み硬さ試験機 ENT-NEXUS |
---|---|
ドキュメント種別 | 製品カタログ |
ファイルサイズ | 3.8Mb |
登録カテゴリ | |
取り扱い企業 | 株式会社エリオニクス (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
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このカタログの内容
Page1
―Action for innovation ENT-NEXUS
Nanoindentation Tester
新製品超微小押し込み硬さ試験機 ENT-NEXUS
株式会社エリオニクス
Page2
従来の押し込み硬さ試験法
押し込み後の
荷重 F で圧子を 圧痕を観察
試料に押し込む
圧子
圧子
サンプル サンプル
―Action for innovation 株式会社エリオニクス
Page3
従来の硬さ試験法
d1
d = (d1+d2)/2
HV = F/AS = 1.8544F/d^2
Vickers
―Action for innovation 株式会社エリオニクス
h d2
Page4
ナノインデンテーション試験
Pma
x
indenter Loading curve
Unloading
curve
S
Sample hr hC hmax
Penetration depth, h
ナノメートルオーダーでの
押し込み試験 P-h曲線
極表面層・局所領域の
力学特性の評価
・硬さ ・弾性率 ・弾塑性特性
―Action for innovation 株式会社エリオニクス
Applied load, P
Page5
ナノインデンテーション試験
マルテンス硬さ HM
押し込み硬さ H FIT HM max
As (hF max
)
H maxIT 2
Fmax Ap (h ) As (hmax ) 26.43hc max
2
A (h
C=dh/dF p c
) 23.96hc
Loading hc hmax 0.75(hmax hr )
curve 押し込み弾性率 EIT
Unloading dF
1 ( )2
curve EIT
s
dh *面積 A は圧子の 1 1 ( )2
幾何学形状より算出 i
0 hp h hr max Er Ei
Penetration depth h
Er
Berkovich 2C Ap (hc )
―Action for innovation 株式会社エリオニクス
Load F
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圧痕の弾性回復
Pmax
Indenter
F
hmax = hc
hmax Sample
Penetration depth, h
Pmax
F
S
hmax hc
hr hC hmax
Penetration depth, h
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Applied load, P Applied load, P
Page7
ナノインデンテーション試験の規格
ISO 14577-1 計装化押込み硬さ試験
JIS Z 2255 超微小負荷硬さ試験方法
―Action for innovation 株式会社エリオニクス
Page8
エリオニクスの新たなENTシリーズ、
ENT-NEXUS(ネクサス)誕生。
ENTシリーズとは
ENT-1100b, ENT-2100, ENT-3100 累計販売台数250台以上のベスト
セラーシリーズ
ナノインデンテーション試験
ISO 14577-1/JIS Z 2255に準拠したナノインデンテーション(超微
小押し込み硬さ)試験が可能
オプションで表面力測定が可能
NEW!!
モジュール構成
NEXUSフレームに各種測定ユニットをマウントするモジュール構成
アップグレードが容易
ユニットはユーザーで交換可能
―Action for innovation 株式会社エリオニクス
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ENT-NEXUSの特長
アップグレードやメンテナンスが容易
ユニット追加/交換により安価にアップグレード可能
メンテナンス時のダウンタイムが短い
ユニット単位で今後も開発
高いデータ再現性
温度管理機構
シールドケース内を±0.1℃で温度コントロール
高性能除振台搭載
アクティブ除振台を標準装備
高精度大型ステージ搭載
100nm/stepステージによる高精度位置決め。
大型ステージ(サンプルサイズ:200x100x50mm)を搭載。
表面力測定機能追加可能
低荷重ユニットのオプション機能として
―Action for innovation 株式会社エリオニクス
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NEXUSユニットラインナップ
高荷重ユニット(5μN~2N) 低荷重ユニット(0.5μN~10mN)
ENT-1100b&ENT-2100相当の荷
ENT-3100相当の荷重レンジをカ
重レンジをカバーする測定ユニッ
バーする測定ユニット。
ト。
弾性率数GPa程度の軟質材料や、
主に金属材料やDLCなど硬質皮膜
押し込み深さ10nm以下の測定に対
の硬度測定に最適です。
応。
樹脂フィルムやシリコーンゴム等
の弾性材や極薄い硬質膜に最適で
す。
表面力測定オプション
表面力解析ソフト、ピエゾステージ、
真空チャンバの追加で表面力測定が
可能です。
―Action for innovation 株式会社エリオニクス
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豊富なオプション
高荷重ユニット/低荷重ユニット
表面プロファイル測定
加熱粘弾性試験
粒子強度試験
ビッカース硬度(HV*)換算 など
表面力測定オプション(低荷重ユニット)
真空チャンバ
除電
水中測定 など
―Action for innovation 株式会社エリオニクス
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用途
金属
メッキ膜、スパッタ膜、ワイヤ、ベアリング
薄膜
DLC、TiNなど硬質膜、レンズ上の光学薄膜、HDD保護膜
半導体関連
絶縁膜、電極、レジスト膜
樹脂
UV硬化樹脂、樹脂=ファイバー複合材料
粉体
トナー、研磨剤、金属粉、樹脂球、微小ガラス球
生体材料
歯、骨、歯科用樹脂
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高荷重ユニット
ENT-1100b, ENT-2100の荷重レンジをカバー
最大荷重2Nと幅広い用途に活用
金属膜やDLC膜など
■サンプル:溶融石英
■試験荷重:100μN(押し込み深さ約25nm)
―Action for innovation 株式会社エリオニクス
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低荷重ユニット
ENT-3100相当の測定レンジをカバー
軟質材料や極薄膜
■サンプル:レジスト(樹脂)
※9回連続重ね合わせ測定
■試験荷重:1.0μN(押し込み深さ約7nm)
―Action for innovation 株式会社エリオニクス
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オプション測定例―(1)粒子強度試験
装置構成
NEXUSフレーム+高荷重ユニット+粒子強度試験ソフトウェア
《破壊試験》
粒子強度試験
フラット圧子を用いて粒子に荷重を負荷 Fs_p
破壊強度、公称変形強度を求める
破壊強度:(Cs_p)
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オプション測定例―(1)粒子強度試験
測定結果
ガラス
ガラス測定前
↓
ガラス測定後
―Action for innovation 株式会社エリオニクス
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オプション測定例―(1)粒子強度試験
測定結果
ポリスチレン
ポリスチレン測定前
↓
ポリスチレン測定後
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Page18
オプション測定例―(1)粒子強度試験
測定結果
銅
銅測定前
↓
銅測定後
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Page19
オプション測定例―(1)粒子強度試験
測定結果
ガラス ポリスチレン 銅
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Page20
オプション測定例―(2)粘弾性測定
装置構成
NEXUSフレーム+高荷重ユニット or 低荷重ユニット+粘弾性測定ソフトウェア
貯蔵弾性率E’、損失係数tanδの測定
変位振幅
1~2nm
測定条件
最大荷重:1mN
押し込み深さ:500nm程度
荷重振幅:15μN(変位 1~2nm)
周波数:1Hz 正弦波
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