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パワーモス方式半導体による独自のインパルス発生機構
パワーモス方式半導体による独自のインパルス発生機構
極軽微なコロナが検出されて、短絡事故の事前予知可能
合否判定基準の数値化
正確な判別および歩留まり向上
検査・設定条件・測定データをメモリーカードに保存
管理業務の工場、省力化
各種インターフェイス標準装備
自動化ラインに対応可能
このカタログについて
| ドキュメント名 | コイルテスター MODEL6160 |
|---|---|
| ドキュメント種別 | 製品カタログ |
| ファイルサイズ | 1.5Mb |
| 登録カテゴリ | |
| 取り扱い企業 | 株式会社ノアコーポレーション (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
