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システムＬＳＩ LSIテスティングソリューション カタログのご案内です。
車載デバイス
高速デジタルデバイス
メモリデバイス
半導体の試験・検査機器業界における長年の経験と知識・技術力をバックグラウンドに、更にたゆまない勉強と努力による新技術の修得と蓄積を続け、各種の半導体試験・検査機器等のユーザに発生する様々な要求事項に対し、最適な機器及びソフトウェア等とユニークなサポートの提供を目指しております。
このカタログについて
| ドキュメント名 | システムＬＳＩ LSIテスティングソリューション |
|---|---|
| ドキュメント種別 | 製品カタログ |
| ファイルサイズ | 1.1Mb |
| 登録カテゴリ | |
| 取り扱い企業 | ATEサービス株式会社 (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
このカタログ（システムＬＳＩ LSIテスティングソリューション）の内容
Page 1:ATEサービス株式会社www.ate.co.jpATEサービスのLSIテスティングソリューション車載デバイス 高速デジタルデバイスメモリデバイス大電流/ケルビン テストソケットJF MicrotechnologyPAT対応テストログ/イールドマネージメントGalaxy高精度IDDQテストモジュールTeseda/Q-StarクラウドテストCloud TestingTMServiceデスクトップDUT加温/冷却システムATEサービスSerDes, MIPI計測モジュールIntrospect Technology50Gbps PCBコネクタ/ケーブルHUBER SUHNERSI/PIシミュレーションキーサイト・テクノロジーDDRxメモリ測定インターポーザNEXUS Technology