TOFと四重極質量分析計を組み合わせたコンビネーション解析
デュアルの質量分析は、飛行時間質量分析で高感度のトップ単分子層分析を実現しながら、さらに、四重極質量分析計の低濃度デプスプロファイリングと高速イメージング機能を維持します。
◆理想的な最上層の単分子膜のモニタリング
◆パラレル検出、高質量分解能（M/ΔM 1500）、高質量範囲(<10,000m/z)
◆EDXのような他の手法では得られない汚染と清浄度に関する疑問に迅速に回答
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このカタログについて
| ドキュメント名 | 質量分析 モデル TOF-qSIMS Workstation |
|---|---|
| ドキュメント種別 | 製品カタログ |
| ファイルサイズ | 4.1Mb |
| 登録カテゴリ | |
| 取り扱い企業 | イノベーションサイエンス株式会社 (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
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このカタログの内容
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最新 TOF-SIMS
モデル TOF-qSIMS Workstation
TOFと四重極質量分析計を組み合わせた
コンビネーション解析
特 徴
デュアルの質量分析は、飛行時間質量分析で
高感度のトップ単分子層分析を実現しながら、
さらに、四重極質量分析計の
低濃度デプスプロファイリングと
高速イメージング機能を維持します。
●理想的な最上層の単分子膜のモニタリング
●パラレル検出、高質量分解能（M/ΔM 1500）、
高質量範囲(<10,000m/z)
●EDXのような他の手法では得られない
汚染と清浄度に関する疑問に迅速に回答
アプリケーション
●半導体、ガラス製造、接着剤の汚染と表面状態（清浄度または機能化）の解析
●航空宇宙、薄膜コーティング、製薬業界、一般的な材料分析および研究
●未知種の故障分析（剥離および故障したインターフェース）
●法医学およびリバースエンジニアリング
その他、PLD用四重極質量分析計、残留ガス分析計など
多数揃えております