【アプリケーション事例】超高輝度3波長LEDファイバー用光源＆高出力近赤外LEDファイバー用光源

APPLICATION EXAMPLE アプリケーション事例 超高輝度３波長 LEDファイバー用光源 高出力近赤外 LEDファイバー用光源 SLG-450TSL & SLG-150V-NIR 高速パルス R/G/B+NIR の波長切替による複数欠陥の同時撮像 ■「 可視光」＋「近赤外光」の組み合わせによって、表面および内部欠陥を一度のスキャンで撮像可能となり、タクトタ 　 イム短縮・省スペース化が見込まれます。 ■ 最大���kHzの『高速調光パルス』でR/G/Bの波長を切り替えることにより、カラークロストークを最小限に抑えた高 　 い色再現性を実現しました。 ■ LED光源の各波長は独立した調光制御が可能であるため、カメラの受光感度に応じて、R/G/BおよびNIRの明るさ 　 を調整することで鮮明な画像の取得が可能です。 高速マルチスペクトルラインスキャンカメラ Linea ML 8k Multispectral 赤・緑・青 �灯のLEDを搭載した �,���万ルクスを超える超高輝度LED混色光源 SLG-450TSL ���W近赤外ハロゲン光源を超える高出力 外観検査・内部検査に最適な近赤外LED光源 Color SLG-150V-NIR ←R/G/B 画像を合成したカラー画像 ↓R/G/B/NIR 各波長毎の撮像データ R G B NIR

revox . jp ■ LED FIBER OPTIC ILLUMINATOR | LEDファイバー用光源 SLG-450TSL 赤・緑・青 3灯のLEDを搭載した1,000万ルクスを超える超高輝度LED混色光源 ■ 赤・緑・青の�波長をミキシングしたユニークな波長特性 ■ 色合いロック機能により、混色の色合いを崩さずに調光可能 照射距離と照度の特性 波長別分光特性イメージ 30,000,000 �.� 25,000,000 照 SLG-���TSL �.� 20,000,000 ︵度 �.� 　lx ︶ 15,000,000 SLG-���V-CWX �.� 10,000,000 SLG-���V 5,000,000 �.� 0 0 20 40 60 80 100 120 140 160 180 200 � ��� ��� ��� ��� ��� ��� ��� 照射距離（mm） 波長（nm） SLG-150V-NIR 150W近赤外ハロゲン光源を超える高出力、外観検査・内部検査に最適な近赤外LED光源 ■ シリコンウエハ、PCB、パッケージ等の透過検査に最適 ■ ��,���時間の長寿命（ ���nm/���nm/�,���nm ） ■ ハロゲン光源に比べて照射熱が少なく、ワークへの熱ダメージを軽減 ■ 光量フィードバック機能により、過酷な使用環境でも光出力の安定性を実現 ■ CE認証/KC認証 適合 �.� �.� SLG-���V-NIR(���nm) SLG-���V-NIR(����nm) SLG-���V-NIR(���nm) �.� SLG-���V-NIR(����nm) �.� ハロゲン(���W) ハロゲン(���W) ハロゲン(���W) �.� ハロゲン(���W) �.� �.� �.� �.� �.� �.� � � ��� ��� ��� ��� ��� ��� ���� ���� ���� ���� ���� ���� ���� ���� 波長λ［mm］ 波長λ［mm］ ■ LINE SCAN CAMERA | ラインスキャンカメラ Linea ML �k Multispectral 先進の高速スループットカラーイメージングの要求を満たす高速ラインスキャンカメラです。 RGB+NIR出力により優れた色再現性を実現しました。Teledyne DALSA独自のCMOSラインスキャン技術に よる優れた色再現性をコンパクトな筐体とファイバーケーブル対応の高速インターフェースで提供します。 画素数 �,��� x � pixels ラインレート (kHz) �� x � ピクセルサイズ (µm) � x � ピクセルフォーマット (bit) � ダイナミックレンジ (dB) �� 消費電力 (W) �� 動作温度範囲 (℃) � to + �� 外形寸法 (mm) �� (W) x �� (H) x �� (D) 重量 (g) ��� レンズマウント M�� x �.�� インターフェース CLHS LC 電源供給 +�� to +��VDC, Hirose �� pins 本資料で紹介した撮像事例は、さまざまな分野の外観検査に応用することができます。 フィルム 半導体 EV 印刷 PCB " 光でお役にたちたい " 当社へお気軽にご相談ください。 レボックス株式会社 〒222-0033 神奈川県横浜市港北区新横浜2-17-19 ARビルディング8F Tel : 045-548-8172 Fax : 045-548-8568 ���� E-mail : info@revox.jp この資料は����年��月�日現在のものです。 相対強度 相対強度 相対強度

APPLICATION EXAMPLE アプリケーション事例 次世代ラインスキャンカメラ用 LED光源 高出力近赤外 LEDファイバー用光源 SPX-TB-80 & SLG-150V-NIR � 分光プリズムカメラを用いた特殊印刷 (紙幣 ) の同時撮像 ■ 最大周期数���kHzを誇る『高速調光パルス』で光学系（反射・透過）を切り替えることにより、一度の搬送で反射光 　 学系と透過光学系の同時撮像を可能とします。 ■ 高出力の近赤外波長によって、可視光では判別できない紙幣に使用されている「塗料」や「材質」の違いなどもコン 　 トラスト良く撮像することができます。 ■ プリズム分光によって、R+G+B+NIRの各波長を分離してセンサーに受光させることが可能であるため、非常に色再 　 現性の高い画像が取得でき、ワーク本来の鮮やかな色合いも確認できます。 �センサ プリズム分光式 カラーラインスキャンカメラ LQ-201-CL ���W近赤外ハロゲン光源を超える高出力 外観検査・内部検査に最適な近赤外LED光源 SLG-150V-NIR 業界初の高速調光パルス機能搭載(トリガ周期�μs) 次世代ラインスキャンカメラ用 LED 光源 SPX-TB-80 反射光学系（白色） 目視では見えないマイクロ文字も、識別できるサイズで撮像できます。 見本 絵柄も本来の色に近い（色再現性が高い）画像が撮像できます。 透過光学系（白色） 反射光学系（NIR���nm） 見本 見本 白黒すかし（中央）とバーパターン（右端）のすき入れもコントラスト 数字、文字、絵柄の一部が消えており、一見同じように見えるものも 良く撮像できます（一万円札は � 本のバーパターンです）。 NIRによって塗料や材質の違いを見分けることもできます。

revox . jp ■ LED LINE LIGHTING | ラインスキャンカメラ用LEDライン光源 SPX-TB-80 業界初の高速調光パルス機能を搭載した次世代ラインスキャンカメラ用LED光源 ■ 立ち上がり���nsを実現 立ち上がり時間 高速ストロボモード波形 ■ 業界初の高速調光パルス機能搭載(トリガ周期�μs) ■ フルレンジ/パーシャルレンジの�つのレンジ切替えが可能 ■ 高速ストロボモード制御に対応 しており、パルス照明としても使 ■ ダイナミックレンジ(��～���%で均一性±�%以内) 用可能 ■ 発光面長���～�,���mmまで対応(���mm刻み) ■ 従来製品最速の約���nsecでの 立ち上がりを実現 ■ �,���mm、調光���％状態で自然冷却で使用可能 条件：���%点灯、外部からのパルス入力 SLG-150V-NIR 150W近赤外ハロゲン光源を超える高出力、外観検査・内部検査に最適な近赤外LED光源 ■ シリコンウエハ、PCB、パッケージ等の透過検査に最適 ■ ��,���時間の長寿命（ ���nm/���nm/�,���nm ） ■ ハロゲン光源に比べて照射熱が少なく、ワークへの熱ダメージを軽減 ■ 光量フィードバック機能により、過酷な使用環境でも光出力の安定性を実現 ■ CE認証/KC認証 適合 �.� �.� SLG-���V-NIR(���nm) SLG-���V-NIR(����nm) SLG-���V-NIR(���nm) �.� SLG-���V-NIR(����nm) �.� ハロゲン(���W) ハロゲン(���W) ハロゲン(���W) �.� ハロゲン(���W) �.� �.� �.� �.� �.� �.� � � ��� ��� ��� ��� ��� ��� ���� ���� ���� ���� ���� ���� ���� ���� 波長λ［mm］ 波長λ［mm］ ■ LINE SCAN CAMERA | ラインスキャンカメラ �センサ プリズム分光式カラーラインスキャンカメラ Sweep+ Series LQ-201-CL ■ R・G・B・近赤外域それぞれのスペクトラム帯は同一光軸を通過し、�枚のセンサで個別に撮像されます。 　 このRGBカメラと近赤外線カメラを�台に統合するテクノロジーによって、検査対象物の欠陥を幅広く検出。 ■ 単一光軸のため、HALO効果や筒状、起伏のある検査対象の撮像で起こる問題とは無縁。複雑な位置合わせ 　の手間を省くことができます。 ■ さらに単一光軸のメリットで設置位置やエンコード処理も単純化されます。 型番 カラー/モノクロ 波長 画素数 画素サイズ ラインレート インターフェース LQ-���-CL マルチスペクトル �-Bands R-G-B + NIR ���� x � px ��.� x ��.� µm �� kHz Camera Link LQ-���-CL マルチスペクトル �-Bands R-G-B + NIR ���� x � px �.� x �.� µm �� kHz Camera Link SW-����Q-CL マルチスペクトル �-Bands R-G-B + NIR ���� x � px ��.� x ��.� µm �� kHz Camera Link SW-����Q-��GE マルチスペクトル �-Bands R-G-B + NIR ���� x � px �.� x �.� µm or �.� x ��.� µm �� kHz �� Gbps GigE Vision SW-����Q-SFP マルチスペクトル �-Bands R-G-B + NIR ���� x � px �.� x �.� µm or �.� x ��.� µm �� kHz SFP+ over �� Gigabit Ethernet SW-����Q-��GE マルチスペクトル �-Bands R-G-B + NIR ���� x � px �.�� x �.�� µm �� kHz �� Gbps GigE Vision SW-����Q-SFP マルチスペクトル �-Bands R-G-B + NIR ���� x � px �.�� x �.�� µm �� kHz SFP+ over �� Gigabit Ethernet 本資料で紹介した撮像事例は、さまざまな分野の外観検査に応用することができます。 フィルム 半導体 EV 印刷 PCB " 光でお役にたちたい " 当社へお気軽にご相談ください。 レボックス株式会社 〒222-0033 神奈川県横浜市港北区新横浜2-17-19 ARビルディング8F Tel : 045-548-8172 Fax : 045-548-8568 ���� E-mail : info@revox.jp この資料は����年��月�日現在のものです。 相対強度 相対強度

APPLICATION EXAMPLE アプリケーション事例 超高均一ラインスキャンカメラ用 LED光源 SPX-iT ＜特許取得済＞ 光沢がある素材（中間転写ベルト）の欠陥撮像 ■ レボックス独自の光学設計（特許取得済み）により、拡散板を使用せず蛍光灯や伝送ライトと同等以上の均一性かつ 　 数倍の明るさを実現しました。 ■ 光沢がある検査対象にはハレーションを抑制するために拡散光が用いられることがありますが、光量が不足しがち 　 です。そこで、TDIカメラを使用することで光量不足をカバーして鮮明な画像取得が可能となります。 ■ 搬送速度���m/minでも十分な明るさの画像が取得できますので、高速かつ均一性が求められるフィルム等のウェ 　 ブ検査には最適な組み合わせとなっております。 高速高解像度 TDI ラインスキャンカメラ VT-�K�X-H���A-��� レボックス独自の光学設計により高均一を実現 ラインスキャンカメラ用LED光源 SPX-iT 中間転写ベルト 搬送速度���m/min 指紋 打痕 折れ レボックス独自の光学設計による拡散光と TDI カメラの組み合わせによって 打痕や折れ、指紋等の汚れも高速撮像できます！

revox . jp ■ LED LINE LIGHTING | ラインスキャンカメラ用LED光源 SPX-iT 独自の光学設計により高均一かつ高光量を実現したラインスキャンカメラ用LED光源 ■ 蛍光灯並みの低リップル高均一性。蛍光灯・伝送ライト置き換え推奨 ■ 独自の光学系で拡散板を使用せず高均一性を実現 ■ 発光面長���mm～�,���mmまで対応 ■ 自然冷却タイプ ■ スリット幅(�~�mm)変更可能、導光アングルもご用意 ■ 定照度機能もオプションでご用意 一般的なライン光源波形画像 SPX-iT波形画像 ■　斬新な光学設計により、今までLEDでは達成が難しかった超高均一性を実現 ■　従来の方法では、拡散板を取り付けて均一性を上げていたが、SPX-iTは特殊光学系により拡散板なしで蛍光灯や伝送ライト同等の高均一性を実現 ■　明るさも従来品比で数倍を確保した次世代型ライン光源 ■ LINE SCAN CAMERA | ラインスキャンカメラ 高速高解像度TDIラインスキャンカメラ VT シリーズ VT-�K�X-H���A-��� ■ CCDを元にしたTDIピクセルアレイと、 CMOSの読み出し電子回路を組み合わせたハイブリッドセンサーを使用して 　 います。 高速かつ高感度な撮像に加え、高いダイナミックレンジと低消費電力を実現しました。 ■ ��,���e-以上の飽和容量に加え、最高���段のTDIステージにて、 �ラインのラインスキャンカメラと比較し���倍の 　 感度による撮像が可能です。 さらに、最大���㎑のラインレートにより様々なアプリケーションに対応できます。 ■ �Kから��Kの画素数によるM��/M��/M��のマウント構成と、 CoaXPressまたは 　 カメラリンクのインターフェース、さらにコストを抑えた低段数限定モデルなど、 　 幅広い選択肢からアプリケーションに適した機種を選択いただけます。 有効画素数 ラインレート TDI ステージ マウント センサー 画素サイズ (μm×μm) ���� × ��� ���kHz �� / �� / �� / ��� M�� Vieworks �.� × �.� 本資料で紹介した撮像事例は、さまざまな分野の外観検査に応用することができます。 フィルム カーボンファイバー EV(電極箔等 ) 印刷 半導体 " 光でお役にたちたい " 当社へお気軽にご相談ください。 レボックス株式会社 〒222-0033 神奈川県横浜市港北区新横浜2-17-19 ARビルディング8F Tel : 045-548-8172 Fax : 045-548-8568 ���� E-mail : info@revox.jp この資料は����年��月�日現在のものです。