周波数、テスト信号レベル、DCバイアスの掃引に よる複素インピーダンスの正確な測定

周波数、テスト信号レベル、DCバイアスの掃引に よる複素インピーダンスの正確な測定 実際のパッシブコンポーネントのインピーダンスは、周波数、信号レベル、DCバイアスに左右さ れます。回路設計を行う際には、この点を考慮する必要があります。R&S®LCX LCRメータは、これ らの依存性を測定するのに最適です。R&S®LCX 掃引ツールは、これらの掃引を実行し、結果をチ ャートに表示するのに便利なアプリケーションプログラムです。 コイルの依存性 インダクターや変圧器で使用される芯材は、常に非線形特性 を示します。小さな磁界では、保磁力によってヒステリシス損が 生じます。強い磁界では、磁束が飽和状態に近づきます。インダ クターでの損失は、信号振幅の増大および重畳されたDC電流 の増大に伴って大きくなります。 課題 抵抗、キャパシタ、インダクターなどの実際のパッシブコンポー コイルの品質とバイア ネントのインピーダンスは、パッシブコンポーネントのテクノロ ス電流 ジーやサイズによって常に理想値から外れたものになります。 リード線のインダクタンスや抵抗、およびコイルの巻線間のキ ャパシタンスなどの寄生成分は、パッシブコンポーネントの特 性に大きな影響を及ぼします。寄生成分のインピーダンスは、 主に周波数に左右されます。電子回路を設計する際には、この 点を考慮する必要があります。 各種パッシブコンポーネントの等価回路 キャパシタンスの依存性 C セラミックコンデンサでは、誘電率の大きな誘電材料の誘電率 2 は、印加される電界強度によって大きく変動する可能性があり ます。そのため、こうした材料でできたキャパシタのキャパシタ L C R L C R S S S 1 1 1 ンスは、印加されるDCバイアス電圧によって変動します。 キャパシタ 水晶発振器 キャパシタンスとバ イアス電圧 C1 C1 L1 R L R 1 1 1 抵抗値の大きな抵抗 コイル パッシブコンポーネントの特性は、一定の範囲で、印加された AC電流信号や電圧信号の振幅および重畳されたDCバイアス に左右されます。次の段落では、2つの例について説明します。 Application Card | Version 01.00

ローデ・シュワルツのソリューション 抗、リアクタンスは、掃引パラメータに対してダイアグラムにプ R&S®LCX LCRメータは、4 Hz～300 kHzの周波数レンジまた ロットされます。また、インピーダンスとアドミタンスは、複素平 は最大10 MHzまでの周波数レンジで、パッシブコンポーネント 面（ナイキスト線図）にプロットされます。 の複素インピーダンスを正確に測定します。R&S®LCX-K106 高 度解析機能オプションのダイナミックインピーダンス測定機能 サマリ では、テスト信号の周波数、レベル、バイアスの掃引による測定 R&S®LCX LCRメータは、パッシブコンポーネントの複素インピ を実行します。また、結果はログファイルに収集されます。内蔵 ーダンス、抵抗、インダクタンス、キャパシタンスや、周波数、信 されたChartViewを使用すると、これらの測定結果の掃引パラ 号レベル、DCバイアスへの依存性を正確に測定するのに最適 メータへの依存性の定性的な全体像をすばやく確認できます。 なソリューションです。R&S®LCX 掃引ツール（アプリケーション ノート1GP132）では、便利な自動化機能やチャート作成機能 ローデ・シュワルツのウェブサイトで提供されている無償の を利用することができます。 R&S®LCX 掃引ツールを使用すると、さまざまな構成や表 示を行うことができます。このアプリケーションプログラム 詳細はこちら は、R&S®LCXでの周波数、テスト信号レベル、DCバイアスの掃 www.rohde-schwarz.com/LCX 引をリモート制御します。複素インピーダンスとアドミタンス、お www.rohde-schwarz.com/1GP132 よびインダクタンス、キャパシタンス、品質および損失係数、抵 掃引ツール 掃引パラメータ 周波数、電圧レベル、電流レベル、DCバイアス電圧、DCバイアス電流 インピーダンスおよびアドミタンスチャート 振幅、位相、実数部、虚数部、ナイキスト線図 素子値チャート インダクタンス、キャパシタンス、抵抗、品質、損失係数、直列抵抗、並列抵抗、リアクタンス 周波数に対する電解 コンデンサのアドミタ ンス、キャパシタンス、 損失係数 品名 タイプ オーダー番号 LCRメータ、300 kHz R&S®LCX100 3629.8856.02 LCRメータ、500 kHz R&S®LCX200 3629.8856.03 1 MHzへの周波数アップグレード、R&S®LCX200用 R&S®LCX-K201 3630.1880.03 10 MHzへの周波数アップグレード、R&S®LCX200用 R&S®LCX-K210 3630.1900.03 アドバンスド解析機能 R&S®LCX-K106 3630.1922.03 リード部品用テストフィクスチャ R&S®LCX-Z1 3639.2296.02 ケルビンクリップリード R&S®LCX-Z2 3638.6446.02 SMD用テストフィクスチャ R&S®LCX-Z3 3639.2509.02 SMD用ピンセット型テストフィクスチャ R&S®LCX-Z4 3639.2515.02 Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG R&S® は、ドイツRohde & Schwarz の商標または登録商標です。 www.rohde-schwarz.com PD 3683.6770.96 | Version 01.00 | 7月 2022 (sk) 周波数、テスト信号レベル、DCバイアスの掃引による複素インピーダンスの正確な測定 ローデ・シュワルツ トレーニング 掲載されている記事・図表などの無断転載を禁止します。 www.training.rohde-schwarz.com おことわりなしに掲載内容の一部を変更させていただくことがあります。 ローデ・シュワルツ カスタマーサポート あらかじめご了承ください。 www.rohde-schwarz.com/support © 2022 Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG | 81671 Munich, Germany 3683.6770.96 01.00 PDP/PDW 1 ja 3683677096