デジタル・オシロスコープにおけるディープメモリの重要性

デジタル・オシロスコープにおけるディープメモリ の重要性 デジタル・オシロスコープのディープメモリは、高いサンプリングレートにより、長い波形を高解 像度で詳細にキャプチャすることができます。これにより、長時間の波形監視においても、信号 の異常や重要なイベントを見逃すことなく、確実に見つけることができます。 メモリ（レコード長）とサンプリングレートの関係 サンプル数=レコード長 分解能= 1/サンプリングレート 捕捉時間 レコード長=サンプリングレート×捕捉時間 時間 ローデ・シュワルツのオシロスコープは、業界をリードするディープメモリ を提供します。 オシロスコープのメモリの深さは、1回の収集で記録可能な最 大長です。メモリの深さが深ければ長いほど、より長い時間デ ータを捕捉するときに、サンプリングレートを高く保つことがで 課題 きます。これは、より正確で信頼性の高い測定を提供するとと 組込み設計は、アナログ信号とシリアルバスおよびパラレルバ もに、重要な信号事象を確実に捕捉するということを意味して ス等の信号を含み、電子システムにおいて必須な部分です。こ います。 のようなデザインをデバッグする場合、低速信号と高速信号の 両方のコンテンツを同時に長時間捕捉し、ズームインして信号 アプリケーション例 の詳細を表示することが課題となっています。誤動作の原因と スイッチング電源の過渡電圧や、ボード起動時の起動プロセス なる重要なイベント、すなわちグリッジ、スパイク、あるいは、そ などの低速信号イベントを解析する場合は、長時間の監視を の他の異常な現象を見逃さないためには、十分な分解能が必 できることが必須となります。高速と低速の信号、つまり組込み 要になります。 設計におけるアナログおよびデジタルコンポーネントの同時観 測において、信号の相関性を確認するためには、高分解能＝デ 電子計測ソリューション ィープメモリが必要不可欠となります。もう一つの例として、信 ディープメモリを備えたオシロスコープは、この問題を解決し 号のスペクトル解析があります。周波数分解能は、解析に使用 ます。サンプリングレートとレコード長と捕捉時間の関係を図 できる時間の長さに依存します。より多くの時間は、より細かい に示します。 解像度を意味します。さらに、サンプリングレートが高いほど、 ユーザーが確認できる最大周波数が高くなります。 Application Card | Version 02.00 電圧

セグメントメモリ：関連する信号に限定して捕捉 ヒストリー機能：時間を遡って解析 セグメントメモリを使用して信号収集を行う場合は、利用可能 問題の本当の原因を見つけることは、シグナルシーケンスの過 なメモリがセグメントに分割され、各セグメントに一定の数の 去に遡って確認することで可能になります。これはオシロスコ サンプルが記憶されます。ユーザーは、例えばプロトコルベー ープのヒストリーモードで可能です。いつでも、捕捉を停止する スのメッセージのパケット長など、関連する信号に基づいてセ ことができ、ユーザーはオシロスコープのフル機能を使用して グメントの長さを定義します。トリガポイントでは関心のあるデ 過去の測定データを解析することができます。1つの波形につ ータがトリガタイムスタンプとともに、メモリに保存され休止時 き1つのタイムスタンプが、イベントの発生時刻を明確に示し 間は捕捉されません。その結果、ユーザーはメモリを最大限に ます。 活用し、シングルショットによる捕捉よりもはるかに関連性の高 いデータを記録できます。 競合比較 ローデ・シュワルツのオシロスコープは、同等クラスの製品と比 シングルショット捕捉とセグメント捕捉 較して、標準的で大容量なメモリを提供しています。さらに、メ モリアップグレード・オプションにより、長時間に渡ってより詳細 通信休止を伴うプロトコルベースの信号 長時間のコミュニケーションの休止 な解析を可能にします。 同等クラスのオシロスコープよりも大容量メモリを搭載 シングルショット捕捉 200 Msample 2 Gsample 従来のシングルショット捕捉 メモリが限られているために捕捉できない ¸RTO2000 100 Msample 800 Msample 同等のスコープ 標準 多くの休止時間を伴う数パルスの捕捉 オプション セグメント化メモリを使用した捕捉 40 Msample 200 Msample ¸RTE1000 #1 #2 #3 #4 #5 #6 #7 #8 25 Msample 50 Msample 同等のスコープ 標準 動作しているシグナルセグメントの捕捉 オプション ヒストリ関数を用いた各セグメントの解析 40 Msample 400 Msample ¸RTM3000 #1 #2 #3 #4 #5 #6 #7 #8 10 Msample 同等のスコープ 標準 オプション、セグメント 各信号要素の表示と分析 20 Msample 160 Msample ¸RTB2000 1 Msample 同等のスコープ 標準 オプション、セグメント 500 ksample 50 Msample ¸Scope Rider RTH 10 ksample 同等のスコープ 標準 オプション、セグメント モデル メモリの深さ 最大メモリ拡張 セグメントメモリ ヒストリーモ ード チャネル毎 1チャネル当た り最大メモリ R&S®RTO2000 50 Msample 200 Msample 2 Gsample（R&S®RTO-B110） 標準 標準 R&S®RTE1000 50 Msample 200 Msample 標準 標準 R&S®RTM3000 40 Msample 80 Msample – 400 Msample（R&S®RTM-K15） R&S®RTM-K15 R&S®RTB2000 10 Msample 20 Msample – 160 Msample（R&S®RTB-K15） R&S®RTB-K15 R&S®Scope Rider RTH 125 ksample 500 ksample – 50 Msample（R&S®RTH-K15） R&S®RTH-K15 Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG R&S® は、ドイツRohde & Schwarz の商標または登録商標です。 ご購入に関するお問い合わせ PD 5215.0386.96 | Version 02.00 | 7月 2020 (sk) TEL： 0120-190-721| FAX : 03-5925-1285 デジタル・オシロスコープにおけるディープメモリの重要性 E-mail : sales.japan@rohde-schwarz.com 掲載されている記事・図表などの無断転載を禁止します。 技術ホットライン おことわりなしに掲載内容の一部を変更させていただくことがあります。 TEL： 0120-190-722 あらかじめご了承ください。 E-mail : TAC.rsjp@rohde-schwarz.com © 2017 - 2020 Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG | 81671 Munich, Germany 修理・校正・サービスに関するお問い合わせ TEL： 0120-138-065 E-mail : service.rsjp@rohde-schwarz.com 5215038696 5215.0386.96 02.00 PDP 1 ja