デュアルコム分光法による物性計測装置を世界で初めて製品化！
デュアルコム分光法は2台の光周波数コムを用いた新しい分光測定法です。この度、ネオアークは電気通信大学 美濃島薫教授との共同研究において物性計測への応用を確立して、世界で初めて製品化を行いました。デュアルコム分光法により従来の分光法では得ることが難しかった情報を測定可能となり、様々な研究へ活用されることが期待されています。
このカタログについて
| ドキュメント名 | デュアルコム分光法測定機 |
|---|---|
| ドキュメント種別 | 製品カタログ |
| ファイルサイズ | 768.1Kb |
| 取り扱い企業 | ネオアーク株式会社 (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
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このカタログの内容
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デュアルコム分光法測定機
デュアルコム分光法測定機
左：分光測定部 右：デュアルコム光源
本装置はJST, ERATO美濃島知的光シンセサイザ
プロジェクトの成果＊をもとに製作しました
• フーリエ分光法の一つであるデュアルコム分光法
Optical Delay を用いて、干渉波形の光学遅延を測定します。
• 干渉波形の光学遅延と試料の厚さから試料の複素
屈折率スペクトルを求めます。
• 光学部品、結晶などの材料の物性評価に活用が
期待されます。
測定例 石英ガラス 複屈折材料 (LiNbO3)
サンプル無し 有り サンプル無し 異常光線 常光線
＊Akifumi Asahara, Akiko Nishiyama, Satoru Yoshida, Ken-ichi Kondo, Yoshiaki Nakajima, and Kaoru Minoshima, “Dual-
comb spectroscopy for rapid characterization of complex optical properties of solids,” Optics Letters 41, 4971–4974 (2016).
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