光学部品内部欠陥検査装置Xplor100

内部欠陥検査装置 Xplor100 気泡・脈理・結晶欠陥・などの内部欠陥を自動で3次元マッピング 高さ情報も含めた 3次元マップデータ が得られる！ 特徴 用途 ● テレセントリック照明を用い、微細な ● 光学硝材、フィルター、光学窓のよう オートフォーカス観察で、内部高さを識 な、高精度光学系の内部欠陥検査に！ 別した3次元マップデータを得られます ● 樹脂やガラスなどの押し出し成形品など ● セットした後は全て自動で測定、再現性 の内部脈理や不連続部位の観察に！ の高い計測を行います ● 内部屈折率の分布観察や、内部応力の分 ● 内部だけでなく表面異常の計測も可能、 布観察なども可能！ コート前のキズ・異常検査ができる場合 があります ※測定デモは海外のメーカーへ委託しますので、物品の海外発送が必要です

装置概要 光学部品内部欠陥検査装置 Xplor100 計測原理 テレセントリック照明 微細オートフォーカス明視野顕微鏡 測定波長範囲 400～1000nm機種、8～14um機種の2種 (2016年7月現在) 位置調整精度 X/Y/Z軸いずれも+/-0.001mm カメラ分解能 1280x1024pix、画素サイズ5.3umピッチ 最大測定範囲 100x100x100mm カメラ性能 10bits、60fps 光源 窒化シリコン抵抗体(可視～赤外領域対応) 外形寸法、重量 L428xW518xH662mm、約35kg (本体のみ、PCやモニタは除く) レンズオプション 倍率 0.243倍 0.528倍 等倍 2.00倍 WD(作動距離) 103mm 44mm 62.2mm 55.9mm 被写界深度 +/-11mm +/-1.1mm +/-0.9mm +/-0.3mm 視野範囲 45.2mm 20.8mm 11.0mm 5.5mm その他の光学素子 検査関連製品 全自動スクラッチ・ディグ検査装置 試験槽内光学系計測システムFizSET MIL規格やANSI規格に準拠した光学部品の 被験面選択可能干渉 表面キズ(スクラッチ・ディグ)の全自動検査 計を利用し、恒温槽や を行う装置。 キズをマッピングしたデータ 真空槽の内部を直接干 共に、その光学系がどのS/Dレベルに相当す 渉計測できるシステ るかを主観・見落としなく検査します。 ム。 光学系が、試験槽内 非接触粗さ計測器 FlexCam 部で熱や圧力などの環 境下でどのように変形 ロールになっている樹脂フィルムなどの表 するのかリアルタイム 面粗さやキズを、リアルタイムで高速に検査 に観察出来ます。 出来る固定焦点干渉計FlexCam。最大6台/ PCを並べられるので、広範囲の計測も可能。 株式会社 アイ・アール・システム 〒206-0041 東京都多摩市愛宕4－6－20 電話:042-400-0373 FAX:042-400-0374 E-mail:office@irsystem.com Homepage:http://www.irsystem.com