面取り測定装置　Type CMM-44

Page 1:これまで困難だった円筒内外面の面取り寸法の測定を簡単な操作で行えるようにした装置です高精度高速測定を実現しました帯状に広げたレーザー光を測定部に照射し、反射光を結像させ寸法と輪郭を測定シャープなラインビームを結像し、高精度輪郭線を生成します受光密度が高いので検出難なワークでも高精度で測定を行いますW 偏光機能により乱反射をキャンセルして測定の安定化を図ります測定対象ワークの品種切り替えや測定条件の設定、合否判定の他に測定データやプロファイルを表示しますまた、操作手順を表示することで操作ミスを未然に防止します測定したデータは付属の PC に一品一様の Excel ファイル形式で自動保存され、アドインで詳細プロファイルを作成できますトレーサビリティシステム構築の一翼を担いますフットプリントのサイズは W600mm×D650mm占有面積が小さいので工場内の省スペース化に貢献します移動用キャスターでセル生産にもフレキシブルに対応します立ったまま、椅子に座ったままでも操作できる高さにしましたテーブル下には付属の PC を収納できる引出しと着脱可能な棚、PC 用のサービスコンセントを備えていますChamfering Measurement Machine表示分解能 1μm省スペース高輝度 TFT カラー 8 インチタッチパネル測定データを PC に自動保存Type CMM-44半導体レーザ光学系ユーザビリティ測定原理非接触で一瞬に測定します測定結果に個人差が生じません測定と結果を同時に自動集計します測定部の輪郭と数値を画像で残せます 特許出願中問題解決最大ワークサイズが外径 80mm× 幅 37mmC4.5 までの面取り部の測定が可能です表示分解能は X 軸、Z 軸とも 1μm、面取り角度のθを演算します転がり軸受け等の内外輪 R 測定も可能です

Page 2:6001330780650操作画面データ収集・分析 外観図本機の測定精度検証及び性能評価並びに測定データ分析ソフトの作成は、和歌山工業高等専門学校に委託した研究成果によるものですCAT.No.CM160909仕様CMM-44内径 5～70mm外径 12～80mm幅 8～37mm面取り C/Rとも0.1～4.51μm1μmX軸とZ軸の値から演算能力 2秒/箇所 (ワーク交換を含まない)光学方式 拡散反射光源 半導体レーザー (クラス2M)出力 10mW使用周囲照度 白熱ランプ：10000lx以下使用周囲温度 0～＋45℃使用周囲湿度 20～85%RH (結露なきこと)X軸 高精度リニアアクチュエータ／ストローク40mmZ軸 高精度リニアアクチュエータ／ストローク40mm寸法 幅：120mm 奥：120mm 高：30mm石質 インディアンブラック平面度 JIS00級(2μm)フレーム A6N01SS-T5／アルマイト (白)テーブル A5052／アルマイト(黒)机上構造物 冷間圧延鋼板 SPCC／メラミン樹脂焼付塗装 (外：サテンシルバー／内：艶消し黒)制御盤 冷間圧延鋼板 SPCC／メラミン樹脂焼付塗装 (サテンシルバー)電源 AC100V 15A150kgデーター収集・分析用PC(Windows7) 1式同上用ソフトウエア 1式測定時間付属品諸元表示分解能角度材質／表面処理測定器機構部ステージ本体重量ユーティリティー型式被験物 寸法X軸Z軸面取り測定装置%MARUNOUCHIMACHINERY640-8150　 和歌山市十三番丁 51 番地の１Phone 073-433-8670 Fax 073-433-8671有限会社丸之内マシーナリe-mail:info@mmcoltd.co.jp URL:http://www.mmcoltd.co.jp/公式チャンネルyoutube.com/c/mmcoltdjp