最大±60V印加プログラマブル電源 電源ハイサイドをｎA分解能電流計測
有機ＥＬパネルやフレキシブル有機ＥＬパネルではＬＴＰＳ技術
から酸化物半導体ＴＦＴへ技術の転換が必須です！
酸化物半導体ＴＦＴの信頼性評価にＴＥＧ評価装置を提供します
完全プログラマブル計測系を実現しました
このカタログについて
| ドキュメント名 | FPDバックプレーン・TFT用_TEG評価装置 |
|---|---|
| ドキュメント種別 | 製品カタログ |
| ファイルサイズ | 540Kb |
| 取り扱い企業 | 株式会社ワイ・ドライブ (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
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このカタログの内容
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FPDバックプレーン・TFT用_TEG評価装置
最大±60V印加プログラマブル電源
電源ハイサイドをｎA分解能電流計測
◎ご相談ください。各種ノウハウの提供が可能です
有機ＥＬパネルやフレキシブル有機ＥＬパネルではＬＴＰＳ技術
から酸化物半導体ＴＦＴへ技術の転換が必須です！
酸化物半導体ＴＦＴの信頼性評価にＴＥＧ評価装置を提供します
完全プログラマブル計測系を実現しました
TEG計測端子&計測機能 電圧印加機能（最大±60V）
・完全プログラマブル・パルス電圧設定
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FPDバックプレーン・TFT用_TEG評価装置
最大±60V印加プログラマブル電源
酸化物半導体ＴＦＴの信頼性評価にＴＥＧ評価装置を提供します
完全プログラマブル計測系を実現しました
ﾕｰｻﾞｰはﾊﾟｿｺﾝ/EXCEL様APIで自由にテスト条件を設定記述
・EXCEL様に似たｺﾏﾝﾄﾞ
記述ﾃｽﾄAPIで実行
・完全ﾌﾟﾛｸﾞﾗﾏﾌﾞﾙ実行
・計測系15bitADC搭載
Test Box ・0.5μSﾀｲﾑｽﾗｲｽ記述
・ﾃｽﾄｽﾃｰｼｮﾝにﾍﾟﾙﾁｪ可能
・ﾃｽﾄ結果保存
テストステーション構成イメージ ・連続２００時間実行