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測定用アーム HANDY PROBE/METRA SCAN 3D

製品カタログ

最も優れた測定用アーム。それはあなた自身。

・ポータブル光学 CMM
HandyPROBE Next™ポータブル光学CMMは、いかなる環境の不安定要素にも左右されない測定精度を発揮します。厳密な測定セットアップが一切不要で、測定対象物、光学トラッカーおよびワイヤレスプローブは、測定作業中いつでも自由に動かすことができます。現場での使用に特化して設計されているため、他社のポータブルCMM製品と比べ、抜群の柔軟性と広範な測定範囲を誇ります。

・光学CMM3Dスキャナ
厳密な測定セットアップが一切不要なMetraSCAN 3D™光学CMMスキャナは、測定環境における不安定要素に左右されない、現場に適した測定精度を発揮します。測定範囲の拡大が可能で、測定は困難であると思われてきた部品に対しても抜群の測定速度と優れたデータ取得性能を発揮。市場において最も完成されたプロ仕様の3Dスキャナであり、従来のポータブルCMMに代わる現実的なソリューションです。

このカタログについて

ドキュメント名 測定用アーム HANDY PROBE/METRA SCAN 3D
ドキュメント種別 製品カタログ
ファイルサイズ 3Mb
登録カテゴリ
取り扱い企業 株式会社トヨタケーラム (この企業の取り扱いカタログ一覧)

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このカタログ(測定用アーム HANDY PROBE/METRA SCAN 3D)の内容


Page 1:技術仕様HandyPROBE Next™ HandyPROBE Next™|Elite重量 0.5 kg精度 (1)最大0.025 mm 最大0.020 mm一点繰り返し精度 (2)9.1 m3 (4)0.060 mm 0.044 mm容積精度 (3)0.086 mm 0.064 mm一点繰り返し精度 (2)16.6 m3 (4)0.088 mm 0.058 mm容積精度 (3)0.122 mm 0.078 mmMetraSCAN350™MetraSCAN350™|EliteMetraSCAN750™MetraSCAN750™|Elite重量 1.38 kg精度 (1)最大0.040 mm 最大0.030 mm容積精度 (3)9.1 m3 (4)0.086 mm 0.064 mm 0.086 mm 0.064 mm16.6 m3 (4)0.122 mm 0.078 mm 0.122 mm 0.078 mm解像度 0.050 mm測定速度 205,000測定値/秒 480,000測定値/秒スキャン範囲 225 x 250 mm 275 x 250 mm(1) キャリブレーションされた球面アーティファクトに対する直径測定の標準値(2)ASME B89.4.22に基づく。HandyPROBENextのプローブは円錐状のソケット内に配置。それぞれの点は複数方向から測定。それぞれの点の測定は、X、Y、Zの偏差の範囲として分析(値=範囲/2)。(3)ASMEB89.4.22に基づく。C-Trackの動作容積内の異なる位置および方向において、長さが追跡可能なアーティファクトを測定することにより、性能が評価されています(値=最大偏差)。(4)HandyPROBENext/MetraSCAN3D の容積精度性能は、測定が行われる作業容積に依存します(9.1㎥または16.6㎥)。最も優れた測定用アーム。それは、あなた自身。測定ソリューション指定販売代理店HandyPROBE、HandyPROBE Next、C-Track、MetraSCAN 3D、MetraSCAN 350、MetraSCAN 750およびそれぞれのロゴはCreaform Inc.の商標です。© Creaform Inc. 2016.All rights reserved.V1アメテック株式会社 クレアフォーム事業部105-0012東京都港区芝大門 1-1-30芝NBFタワー3階TEL: 81.03.6809.2408 | FAX: 81.03.6809.2410iss-japan@creaform3d.com | www.creaform3d.comNEW

Page 2:光学CMM3DスキャナHandyPROBE Next™ポータブル光学CMMは、いかなる環境の不安定要素にも左右されない測定精度を発揮します。厳密な測定セットアップが一切不要で、測定対象物、光学トラッカーおよびワイヤレスプローブは、測定作業中いつでも自由に動かすことができます。現場での使用に特化して設計されているため、他社のポータブルCMM製品と比べ、抜群の柔軟性と広範な測定範囲を誇ります。ソフトウェアの操作をさらに容易にするマルチファンクションボタンハードウェアに現場に適した信頼性をもたらす堅牢な設計両方のシステムに同梱されるC-Track™光学トラッカーが、スキャニング&プロービングデバイスと部品上のターゲットのリアルタイムでのダイナミックリファレンシングを実行する、Creaformの光学CMMの機能を支えます。高性能な光学コンポーネントを採用したC-Trackにより、システム全体のプロ仕様の測定が可能になります。 万能な測定システム:幾何学的エンティティのプロービングと、完全な表面検査のためのスキャンが可能。測定環境における不安定要素、ユーザーの熟練度、設定の厳密さにかかわらず、常に同等の精度を実現。フレキシブルな測定範囲:従来のリープフロッグ法を使用せずとも、精度を落とすことなく、簡単かつ動的に測定範囲を拡大可能。ダイナミックリファレンシング 拡大可能な測定範囲2倍の精度スマートプローブアダプタ即時測定ソフトウェアの操作をさらに容易にするマルチファンクションボタン厳密な測定セットアップが一切不要なMetraSCAN 3D™光学CMMスキャナは、測定環境における不安定要素に左右されない、現場に適した測定精度を発揮します。測定範囲の拡大が可能で、測定は困難であると思われてきた部品に対しても抜群の測定速度と優れたデータ取得性能を発揮。市場において最も完成されたプロ仕様の3Dスキャナであり、従来のポータブルCMMに代わる現実的なソリューションです。25%軽量化ハードウェアに現場に適した信頼性をもたらす堅牢な設計1.5倍の精度7本のレーザークロスで12倍高速化黒い面、カラフルな面、光沢面に対応ポータブル光学 CMMスキャンとプロービングの併用