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このカタログについて
ドキュメント名 | ビームプロファイラ |
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ドキュメント種別 | 製品カタログ |
ファイルサイズ | 1.3Mb |
取り扱い企業 | エイチアールディー株式会社 (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
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このカタログの内容
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HRD_A4Panf_BeemProfiler_F_2023
HRD ビームプロファイラ
BEAM PROFILER
エイチアールディー株式会社
ビームプロファイラ
弊社のビームプロファイラーは加⼯焦点位置での測定を⾏うので
ワークに照射される真のビームプロファイルが測定できます
ビームプロファイラの特徴
▶ 加⼯焦点位置での測定が可能
▶ 測定可能な最⼩スポット径はΦ10µm
▶ ガルバノ光学系など垂直⼊射でないレーザー光も測定可能
▶ 測定素⼦はプロファイラメーカーを使⽤し信頼性が⾼い
▶ リアルタイム計測で焦点の絶対位置を取得可能
▶ 出⼒ 1kW の⾼出⼒にも対応可能
シングルモードファイバーレーザの普及に伴い微細径
プロファイル計測の必要性も多くなってます
観察光学系内に減衰プリズムを設置した L 字配置光学系より
シングルモードファイバーレーザで集光した微細なスポット
(Φ10μm 程度 ) も測定できます。
出⼒及びセンサー感度に応じてミラーの枚数及び ND フィルターを組合わせて減衰させます。拡⼤結像光学系はΦ10μm
に対応し、スキャンヘッドから斜めに照射されたビーム (24°以下 ) でも平⾏光な測定⾯で計測できるようにしています。
この結果、ピンホールスキャンタイプや CCD タイプで測定できなかった、出⼒ 250W以上のレーザープロファイルを
リアルタイムで計測可能となり、フォーカスの絶対位置が分かるようになりました。
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HRD_A4Panf_BeemProfiler_B_2023
内部構造概要図
▶ビームダンパでエネルギーを吸収することで溶接時と同じ出⼒でビームプロファイルを測定可能
加⼯レーザ
全反射ミラー
全反射ミラー
計測⾯明⽰
結像光学系
NDフィルター
ピント調整プリズム
撮像素⼦
全反射ミラー
ビームダンパ
サンプリングプリズム
対物光学系
ピント調整プリズム
ビームダンパ
サンプリングプリズム
▶焦点位置におけるレーザビームの強度分布3Dデータ
商品推進部レーザ課
〒105-0004 東京都港区新橋 2-2-9 KDX 新橋ビル
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