最先端を超えて新たなるステージへ
ユーエイチ・システムはX線解析装置の専門メーカーとして、実装基板内部解析のために、世界で初めて「3次元斜めCT」技術を開発いたしました。
独自技術のユーセントリック(着目中心)回転)機能により、着目したポイントを”ミクロの眼、さらには”ナノの眼”で、360度方向からの透過観察と高倍率CT撮影を行うことが出来ます。これは、小型化・高密度化・多層化する高機能な電子部品を、高精度に非破壊解析
するために数多く採用されています。今後、更に微細化が進む電子部品に向けて、これからも世界をリードするX線解析装置を提供していきます。
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このカタログについて
| ドキュメント名 | X-ray 3D-CT System |
|---|---|
| ドキュメント種別 | 製品カタログ |
| ファイルサイズ | 1.7Mb |
| 登録カテゴリ | |
| 取り扱い企業 | 株式会社ユー・エイチ・システム (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
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このカタログの内容
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ソフトウェア High Resolution / Wide Field Series ～ 高分解能/広視野3次元X線CTシステム ～
多様なニーズに対応したマルチデバイス制御ソフトウェア（Jasper/Quartz）により、直感的な操作性や高速化を実現。 新たなデザインに加え、従来機よりも省設置スペースを実現。
観察画面（Analyzer）と再構成画面（Recon）を同一ソフト内で使用可能。 （従来比30%減）
観察画面（Analyzer） 再構成画面（Recon） 透過・CT両機能を兼ね備えたデスクレス仕様のオールインワン
～各種制御や撮影～ ～CT再構成処理のデータ表示や編集～ NEWモデル。
①1 ツールズアイコン： ①1 ツールズアイコン：
マッピング機能、ティーチング機能、計測機能、コメント入力機能などへアクセス可能 計測機能、コメント入力機能へアクセス可能 XVA-160RCE
②2ステージコントローラ： ②2タイル表示：
ステージ動作を制御、確認可能 複数の断層表示を1画面で閲覧可能 標準仕様
③3カメラコントローラ：
カメラを設定可能 フラットパネルディテクタ
④4 X線コントローラ： ユーセントリック機能
X線発生器の設定を変更可能
高倍率（1,600倍）
可視光マッピング機能
2 2
1 1 フォーカス自動調整機能
CE規格対応
シグナルタワー・UPS搭載
3
オプション機能
3次元斜めCT機能
直交CTユニット： Presto
4
High Power Series ～ 高出力マイクロフォーカス3次元X線CTシステム ～
可視光マッピング機能 X線マッピング機能 ティーチング機能
可視光マップ上をクリックすることで、任意の場所へ 1視野のX線画像を連結することで、広範囲の透過画像 透過撮影、CT撮影など多点でそれぞれの登録をして 微小化の進む電子デバイスから大型アルミダイカスト
移動できます。 を撮影可能です。 自動で撮影することが可能。また、マッピングと連動 製品などの大型サンプル、またGFRP、CFRTPなどの
した座標登録も可能です。
複合材料まで観察可能なワイドレンジモデルです。
直 交 C T 専 用 機
Si-300
標準仕様
フラットパネルディテクタ
マルチスキャン
オフセットスキャン
マウス操作機能 計測機能
ヘリカルスキャン
直感的なUIで、マウスを使った直感的な操作 透過画像やCT画像上で各種寸法、面積、
フォーカス自動調整機能
を実現しています。 ボイド計測が可能です。
A オプション機能
コリメータ
B
ドラッグ操作で撮影位置が簡単移動
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