デュアルサイドフライングプローブテスタ APT-1600FD

DUAL-SIDE FLYING PROBE TESTER APT-1600FD 製品カタログ Ultrafast Speed & High Performance

APT-1600FD 1600FD-SL 検査可能範囲を大幅拡大、更なる検査時間の短縮 進化し続ける検査能力 APT -1600FDの強み POINT 01 上下両側同時検査 上側 4ヘッド&6フライングプローブ 下側 2ヘッド&4フライングプローブ 上下のフライングプローブを同時使用した最大6プローブのコンビネーション検査で、 基板の上面・下面の両ポイントにコンタクトが必要な部品の検査を可能としました。 また、両面実装基板の検査では反転工程が不要となり、検査時間を大幅に短縮します。 POINT 02 レーザー変位測定システム レーザー光で基板面ならびに部品上面の高さを測定し、インサーキットテストでは検出できない実装 不良を確実に発見します。また、基板の反り量を読み取り、プローブのコンタクト位置を自動補正 する機能も有します。 POINT 03 上下面AOI（画像検査） デュアルカメラを使ったAOI機能を標準装備しており、インサーキットテストでは検出できない バイパスコンデンサの欠品など、実装不良を光学的に検査します。 Dual-side Flying Probe Tester

ポイント POINT 01 上下両側同時検査 上側 4ヘッド&6フライングプローブ 下側 2ヘッド&4フライングプローブ POINT 02 レーザー変位測定システム POINT 03 上下面AOI（画像検査） POINT POINT 04 プローブコンタクト制御 05 スマートファクトリーに対応 プローブの降下スピードは19段階でコントロール お客様の工場内ネットワークとの 入退室管理システム 生産管理 が可能です。FPCなど繊細なワークにおいては、 連結を容易に行える、複数のイン システム プローブの高速動作は維持しつつ基板コンタクト ターフェースをご用意しています。 の瞬間に減速させ、衝撃を最小限に抑えます。 迅速かつ詳細なトレーサビリティの また、ハンダ表面にフラックス被膜がある場合は mm 降下時 確立、検査状況の可視化、問題への ハードコンタクトを行い、検査の信頼性を向上 Max400mm/sec 迅速な対応など、生産活動における MES 検査装置 させるなど、あらゆる基板において安定した検査 コンタクト時 QCD（品質、コスト、納期）の継続的 を実現します。 Min10ｍｍ/sec 改善に貢献します。 他社設備 POINT POINT 06 あらゆる不良を検出できる測定システム 07 特殊形状基板に対応 様々な検査対象に対応できるDC/AC測定システムを搭載しています。また、 独自設計の分割式クランプを採用しております。 本体測定ユニットの他に、すべてのフライングヘッドに小型測定ユニットを搭載 特殊形状の基板や、端面からコネクタや部品が しており、微少なインピーダンス・キャパシタンスであっても、ケーブル長やノイズ はみ出している基板でも、治具は不要です。 の影響を受けることなく、絶対的な精度と信頼性で測定が可能です。 POINT 08 電流 拡張性も備わったファンクションテスト 電 Sink（吸収） Source（供給） 電 標準でDC±20V/±1Aのソースメジャーユニットを2つ搭載しており、2電源、4象限動作による広範囲なファンク 圧 圧 Source（供給） Sink（吸収） ションテストに対応します。オプションの電源ユニット追加で、最大±80Vまで印加電圧を拡張できます。 電流 POINT 09 +α充実したオプション 1 LED発光検査 2 ICハンダ未接合検査 3 マルチプローブシステム 基板上のLEDを点灯させ、専用のセンサーを用いて ICのパッケージ上部にセンサープローブ 下面側の垂直軸に治具昇 発光色を読み取ります。目視では識別困難なLED発 を設置し、IC内部から放射する微小な 降機構を搭載し、基板下面 光色の色相・彩度・輝度を数値化し、明確な判定基準 信号を読み取り数値化します。ICのリード の複数ポイントに同時コン で安定した検査ができます。専用治具は不要です。 浮き不良や、BGAのボールハンダ未接合 タクトを行います。 不良を電気的に検出します。 FPGA・フラッシュメモリ などのプログラム書き込み や特殊性能検査など、外 部機器との連動を可能に します。 4 検査プログラム作成支援ソフト CADソフト 支援ソフト APT ダイレクト生成 独自開発の支援ソフトを活用いただくことで、お手持ちのCADソフトより出力されたCADデータ 従来 から検査プログラムを自動生成できます。誰でも簡単に短時間で扱える操作性と、様々な検査 変換 用途に対応する機能を追及しています。 データ書き出し 検査

ラインナップ APT-1600FD APT-1600FD-A APT-1600FD-SL APT-1600FD-SL-A モデル 標準モデル 大型モデル（ＳＬシリーズ） オフライン インライン オフライン インライン 全体寸法・重さ W1400×D1500×H1400mm W1400×D1500×H1400mm W1520×D1620×H1400mm W1520×D1620×H1400mm 1450kg 1450kg 1600kg 1600kg 検査可能基板寸法 L50 × D50mm - L540 × D483mm L50 × D50mm - L635 × D610mm 検査可能基板厚 0.6 - 5.0mm 搭載部品高さ（max.） （※下面側は基板厚みを含む） 上面 / 下面 60mm 基板クランプスペース 上面：奥 / 手前の端面から3mm 下面：奥 / 手前の端面から3mm 下面：奥 / 手前の端面から7mm 基板重量（max.） 5kg 3kg 8kg 10kg インライン機 実装ラインとの連結もしくはローダー /アンローダーの接続により、最速40ｍ / minの連続自動検査体制を構築します。 搬送方向は左右どちらにも選択可能です。オペレータの負担軽減、省人化に貢献します。 インライン専用オプション 前後装置通信インターフェース / シャトルステーション / コンベア幅自動変更機能 基板搬入出シャッター / 自動機種切り替え機能 / 分割検査システム ローダー アンローダー 仕様 速度＆精度 APT-1600FD / APT-1600FD-A APT-1600FD-SL / APT-1600FD-SL-A 検査速度（2.5mmピッチ移動時） コンビネーション：Max. 0.02秒-0.03秒/step コンビネーション : Max. 0.03秒-0.04秒/step シングル：Max. 0.05秒-0.06秒/step シングル : Max. 0.07秒-0.08秒/step プローブ位置決め繰り返し精度（XY） ±25 - ±40μm ±30 - ±40μm 最小コンタクトパッドサイズ 60 - 80μm 80 - 100μm 構成 フライングプローブ 標準タイプ 傾斜プローブ4本 上 面 標準＋シングル垂直Z軸タイプ 傾斜プローブ4本、垂直プローブ2本（検査プローブもしくはICオープンテストプローブ） 側 標準＋デュアル垂直Z軸タイプ 傾斜プローブ4本、垂直プローブ2本（検査プローブとICオープンテストプローブ自動切り替え） 下 標準タイプ 傾斜プローブ2本 面 側 標準＋シングル垂直Z軸タイプ 傾斜プローブ2本、垂直プローブ2本（検査プローブもしくはICオープンテストプローブ） プローブ仕様 最大許容電流:2A 先端形状:ニードル、極小クラウン、角錐、カップ他 プローブ移動用モーター（XYZ軸） ハイスピードACサーボモーター＆制御システム プローブ位置決め最小分解能 X-Y軸：1.25μm　Z軸：5μm プローブ最小コンタクトピッチ 150～190μm オプション 下側レーザー変位測定システム / LED カラーテストシステム(上面/下面) / DC ±80V/±1A プログラマブルソースメジャーボードユニット / ファンクションスキャナーボード パワーリレーボード / マーキングユニット / バキュームユニット / マルチプローブシステム 他

使用環境 搭載PC / OS Windows® PC（ DVDドライブ、HDドライブ、キーボード、マウス付き）　　OS：Windows 10 モニター & プリンター LCD：1920×1080 解像度　　プリンター：小型サーマルプリンター（USB接続） 使用電源 & 使用エアー 電源：AC200～240V（単相）、 50/60Hz、最大4.0kVA　　エアー：0.6～0.8Mpa（ドライエアー） 使用環境 温度：16～30℃（60～86℉）　　湿度：30～75%（結露しないこと）　　高度：1000m以下 検査 測定信号（ボード印加可能信号） DC定電圧 / 定電流 -1 ４象限ソース＆メジャーシステム　最大±20V/±1A（※1） DC定電圧 / 定電流 -2 ４象限ソース＆メジャーシステム　最大±20V/±1A（※1） DC定電圧 / 定電流 -3 ４象限ソース＆メジャーシステム　最大±80V/±1A（オプション） AC定電圧 最大20Vpk / 100mApk f=1Hz～0.5MHz（正弦波、矩形波、三角波） 測定範囲 DC電圧 / 電流 ±125V / ±1A（※1） AC電圧 150mV ～ 75Vrms, f = 10Hz ～ 0.5MHz 周波数 1Hz ～ 20MHz / 2V ～ 20Vp-p 抵抗 5mΩ ～ 50MΩ キャパシタンス 0.5pF ～ 200mF インダクタンス 0.5μH ～ 500H インピーダンス / 位相角 2.5Ω ～ 3.3MΩ / ±90° トランス インダクタンス、巻線比、位相差 PN接合VF測定 0.1V ～ 40V ツェナーダイオード電圧 0.1V ～ 40V（ ｍax.80V, オプション） オープンチェック 閾値5Ω ～ 50MΩで設定可能（標準100Ω以上） ショートチェック 閾値1Ω ～ 500KΩで設定可能（標準10Ω以下） ダイオード / トランジスタ / FET PN接合VF測定、ONテスト、ゲイン、特性 リレー / フォトカプラー / スイッチ素子 ONテスト ICリード浮き PN接合VF測定、ICオープン検出プローブによる検出（オプション） 発光LED（オプション） 色相、彩度、輝度 良否判定範囲設定 基準値に対して-999.9 ～ +999.9%、絶対値 検査ステップ数 最大 350,000ステップ ※1 最大電流はファンクションスキャナーボード（オプション）を挿入すると2Aまで増加させることができます。 ※記載している会社名および製品名は、それぞれ各社の登録商標もしくは商標です。 ※製品仕様、外観、色等をお断りなく改正・改訂することがありますが、ご了承願います。 ビジョンテストシステム TOS-7F カメラ 1/3“ CCD カラーデジタルカメラ, 視野範囲 :約 10 × 8mm（ 上下デュアルカメラ） 照明 リング状白色LED照明, 256段階で明るさ制御可能 機能 コンタクト位置アライメント, 外観簡易検査, バーコード又は二次元コード読み取り, カラーリアルマップ, その他 外観簡易検査項目 部品の有無、位置ズレ、異種装着、極性、部品色検査 など 検査画像数 最大 2,000画像（ 上下両側総数） レーザー変位測定システム 光源 赤色半導体レーザー（ 上面側） 測定方式 ライト / 反射式（ レーザー変位） レーザービーム直径 0.25 × 2.65mm ~ 0.40 × 2.75mm（ 測定ポイントの高さによって異なる） 測定範囲 -5.0mm ～ +50.0mm 繰り返し精度 ±100μm もしくは以下 測定時間 1ms/ポイント（ XY移動時間を含まない） 機能 自動生成3Dマッピングによるコンタクト位置アライメント、部品の有無・部品浮き・異種着装・基板の反り/たわみ自動補正

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