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汎用X線回折装置で柔軟性に富んだ残留応力解析を実現
このカタログについて
ドキュメント名 | D8 DISCOVER 残留応力解析用XRD |
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ドキュメント種別 | 製品カタログ |
ファイルサイズ | 619.5Kb |
登録カテゴリ | |
取り扱い企業 | ブルカージャパン株式会社 (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
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このカタログの内容
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D8 DISCOVER
残留応力解析用 X線回折装置
汎用XRD装置で柔軟性に富んだ残留応力解析を実現
材料に与えられた残留応力は、機械強度の増加に貢献
する正の側面と、表面コーティング層の剥離を誘発する
負の側面があり、適切に制御することが望まれます。
X線回折を用いた残留応力は、結晶質材料の格子変形
を直接観察し、材料の弾性定数を用いて算出されます。
また、非破壊で実施できること、比較的短時間で測定・
解析が行えること、1mm径以下の空間分解能が得られ
ること、などのメリットから、広く活用されています。
一方で、加工工程の複雑化にともない、従来の解析ア
プローチでは解析できない材料が増えていることも事実
です。
Brukerでは、より高度な応力状態の解析を簡単に実現
する残留応力解析パッケージをご用意いたしました。
特別講演
複雑な残留応力状態を正確に解析
従来より広く用いられているsin2ψ法では、格子面間隔の観察方向を傾けながら、その値のシフト量を残留
応力値へ変換します。このとき、平面応力場を仮定し、直線近似が行われます。一方で、バネのような形状の
サンプルでは、「ねじる」力による剪断応力成分が発生し、平面応力場の仮定が成立せず、sin2ψ線図に非線形
性が発生します。旧来の応力専用機ではこれを直線近似するため、応力値は真値から逸脱し、かつ解析誤差
も大きくなります。Brukerのソフトウェアでは、剪断応力成分も正しく評価できる測定条件の作成と解析の適
用が可能です。さらに、sin2ψ法を3軸応力解析への展開もサポートします。
156.5
156.4
156.3
156.2 垂直応力:
156.1 -55.2
156 -50.8
-42.1 -46.4155.9 -37.8 -171 ± 19 MPa
155.8 -0 -15.9 -22.8 -28.3 -33.2
155.7
0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7
Sin 2̂(Psi)
156.5
55.2
156.4 50.8 垂直応力:
156.3 46.442.1
156.2 37.8 -236 ± 5 MPa
156.1 33.2 -55.228.3
156 -50.822.8
155.9 15.9 -37.8 -42.1
-46.4 剪断応力:
155.8 -33.2-0 -15.9 -22.8 -28.3
155.7 -53 ± 1 MPa
0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7
Sin 2̂(Psi)
2Theta 2Theta
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2Dフルデバイリングフィッティング法による理想的な応力解析
Brukerにおける30年を超える2次元XRDのノウハウは、残留応力解析においても多大なる威力を発揮しま
す。離散的な記録条件であるsin2ψ法と比較して、2次元回折パターンに記録されたデバイリングを緻密に分
割し、サンプル内部の格子歪状態を3Dスキャンのように記録していきます。150点を超える測定データを有
効利用し、最大で3つの垂直応力(σ11, σ22, σ33)と3つの剪断応力(σ12, σ13, σ23)をわずか数10秒で導き出しま
す(通常、σ33=0と仮定)。解析ソフトウェアは2次元専用検出器のみならず、最新のマルチモード検出器
EIGER2シリーズも強力にサポートします。
さらに、Bruker独自技術であるマイクロフォーカスX線源 IμSとの組み合わせで、冷却水を一切使うことな
く数10μmの入射X線を生み出します。これにより、究極の安定性と省メンテナンス性を備えた微小部残留
応力解析システムを構築することができます。
デバイリングの分離結果と
サンプル応力状態の可視化 完全空冷IμS線源とEIGER2検出器の構成
操作も簡単に ‒ Push-Buttonシステム
応力測定の実行に複雑な操作は必要ありません。
1) サンプルをセット
2) 測定条件ボタンをクリック: Push-Button
3) サンプル名を入力
これだけです。もし、実際の装置状態と測定条件が異なって
いる場合は、ソフトウェアが該当箇所を適切にお知らせする
「フェールセーフ機能」を搭載しています。
詳しくは info.BAXS.JP@bruker.comまで、お問い合わせください
ブルカージャパン株式会社 X線事業部
横浜本社 : 〒221-0022 大阪営業所 : 〒532-0004
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