【パターンの断線、キズ、ショート、ピンホール、寸法不良などの欠陥をインラインで検査可能！】PCB外観検査システム（プリント基板外観検査システム）
製品カタログ
CCDラインセンサカメラの採用により高速処理を実現！
●概要
BGA、CSPなどのパッケージ基板の外観検査を高速・高精度におこなう光学式外観検査システムです。
パターンの断線、キズ、ショート、ピンホール、寸法不良などの欠陥をインラインで検査可能です。
●特徴
・インライン検査が可能です。
・CCDラインセンサカメラの採用により高速処理を実現します。
・検査結果データと欠陥画像をリアルタイムに作成・保存します。
・検査結果はExcelファイルとして保存も可能です。
●オプション
ローダー／アンローダーユニット
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このカタログについて
| ドキュメント名 | 【パターンの断線、キズ、ショート、ピンホール、寸法不良などの欠陥をインラインで検査可能！】PCB外観検査システム（プリント基板外観検査システム） |
|---|---|
| ドキュメント種別 | 製品カタログ |
| ファイルサイズ | 299.7Kb |
| 登録カテゴリ | |
| 取り扱い企業 | 株式会社ラポールシステム (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
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このカタログの内容
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●概要
ＢＧＡ、ＣＳＰなどのパッケージ基板の外観検査を高速・高精度におこなう光学式外観検査システムです。
パターンの断線、キズ、ショート、ピンホール、寸法不良などの欠陥をインラインで検査可能です。
BGAパッケージ CSPパッケージ PCB基板
●特徴
・インライン検査が可能です。
・ＣＣＤラインセンサカメラの採用により高速処理を実現します。
・検査結果データと欠陥画像をリアルタイムに作成・保存します。
・検査結果はＥｘｃｅｌファイルとして保存も可能です。
●画面例
装置外観写真
●仕様
基板サイズ(カスタマイズ可） ３００ｍｍ × ３００ｍｍ ～ ５４０ｍｍ × ６３０ｍｍ
検査分解能（最小解像度） ９μm/pix
検査項目 パターンの断線、キズ、ショート、ピンホール、異物、変色、穴径、位置ズレ
入力センサ（カメラ） １６０００画素ＣＣＤラインセンサ × ４台
階調出力 ２５６階調出力
検査処理方法 パターンマッチング
検査タクト １５sec/sheet (５４０ × ６３０ｍｍ時)
●オプション
ローダー／アンローダーユニット
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計測・制御・通信の
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