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オージェ電子分光装置(CMA)/走査型電子顕微鏡に!
FAG502XPはオージェ電子分光(CMA)用に開発した製品です。熱電子銃とCMA分光器を高精度に制御することが可能です。また外部制御用のポートを標準装備◆詳細はカタログをダウ...
研究室で最大0.1気圧環境下のオペランド測定が可能
表面分析機のリーディングカンパニー・SPECS社(ドイツ)の「EnviroESCA」は、放射光施設まで出向かなくても、個々の研究室で準大気圧環境下に置いた試料のX線光電子分光スペク...
時系列変換パルス分光法の新しい赤外領域の分光装置
電磁波パルスの電場強度の時間波形を計測することで、電場強度と共に位相情報も同時に計測します。 リファレンスとサンプルでの時間波形の違いを解析することにより、サン...
テラヘルツ分光測定にエリプソメトリの技術を導入した、新しいテラヘルツ分光装置です。
反射光学系の採用により、不透明な材料の測定に最適です。 【主な特徴】■キャリア濃度・移動度を非破壊・非接触で測定■テラヘルツ領域の複素誘電率を計測可能■液体試...
豊富な製品ラインナップ
分光計器株式会社では、透過・反射測定、発光分析、照射分光などのアプリケーションに、豊富なデバイス群(光源・モノクロメータ・検知器・ソフトウェア)を目的に合わせて組み...