株式会社フィッシャー・インストルメンツのカタログ一覧

電磁式・渦電流式・ 渦電流位相式の３方式の膜厚計　PHASC...

２層コーティング厚み測定用の携帯式膜厚計

■　自動検知機能によりアルミ板上の塗装膜厚測定もプローブ変更なく測定 ■　一度に塗装と亜鉛層それぞれの厚みを測定 ◆詳細はカタログをダウンロードしてご覧下さい。

小型電磁式膜厚計 プローブ内蔵タイプ PERMASCOPE(...

小型電磁式膜厚計 塗装の厚みを簡単に測定

・作業現場でも持ち運びが便利なポケットサイズ ・自動電源オフ機能 ・読み取りやすい画面でのデジタル表示 ・自動統計機能 ・上／下限値設定可能 ◆詳細はカタログをダウンロードしてご覧下さい。

電磁式・渦電流式小型膜厚測定器　FMPシリーズ

高機能型のハンディタイプ膜厚測定器

・着脱式のプローブにより、さまざまな仕様のプローブから選択可能 ・電磁式と渦電流式のどちらかの方式、または両方式を使い非破壊で膜厚測定 ・下地材料とプローブタイプを自動認識 ・コントラストの高い大型ディスプレイ ・簡単な操作性と多数のオプションに...

フェライト組織量の測定　フェライトスコープ　FERITSCO...

オーステナイト鋼とデュープレックス鋼におけるフェライト組織量の測定

・FERITSCOPE FMP30はオーステナイト鋼とデュープレックス鋼のフェライト組織量を測定します。 ・磁性構造体部分、他のフェライト相も測定できます。 ◆詳細はカタログをダウンロードしてご覧下さい。

ウェハーの測定に特別設計された蛍光X線測定装置　FISCHE...

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ WAFERは、ウェハーの膜厚測定と...

・エレクトロニクス産業や半導体産業などのウェハー測定 ・薄膜コーティングの分析（例）0.1µm以下のAuやPdなど ・多層膜コーティングの測定など ・ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別に設計されたモデルです。 ◆詳細はカタロ...

蛍光X線測定装置　FISCHERSCOPE(R) X-RAY...

集光レンズの搭載により、微小部のメッキ膜厚を短時間で高精度に測定可能！

●最小10µmの集光レンズを搭載（オプション） 従来では測定できなかった微小部の薄膜メッキでも測定が出来ます。 ●検出器には半導体検出器の中でも最高性能のSDDを採用 SDD(シリコンドリフトディテクタ―)を搭載したことにより、短時間で高精度の...

小型デュアル式膜厚計　DUALSCOPE(R)MP0R／DU...

超小型のデュアル式膜厚計 皮膜の厚みを簡単に測定

・作業現場でも持ち運びが便利なポケットサイズ ・自動電源オフ機能　電池の余分な消費が無く、経済的です ・読み取りやすい2画面でのデジタル表示 ・自動統計機能 ・上/下限値設定可能 ◆詳細はカタログをダウンロードしてご覧下さい。

【膜厚測定・素材分析】蛍光X線分析器　FISCHERSCOP...

FISCHERSCOPE X-RAY XAN(R)シリーズは、膜厚測定や素材分析用の...

・X線源と検出器がチャンバー下側に設置されているため、試料はテーブルにのせるだけで簡単に素早く測定することができます。 ・貴金属やジュエリーなどの製品の品質管理や買取査定、電子部品の金属膜の分析など応用範囲が幅広い機種となります。 ◆詳細はカタロ...

金インゴット・コイン　真偽判定検査装置　SIGMASCOPE...

素早く・非破壊式で真偽判定の検査ができる測定器

・SIGMASCOPE GOLDの測定器では、非破壊で金インゴットやコインが純金であるかどうかを測定することができます。 ・約18mmまでの厚みのある金インゴットを測定することができます。 ◆詳細はカタログをダウンロードしてご覧下さい。

電解式による膜厚と電位差の測定　COULOSCOPE(R) ...

シンプルで測定しやすい電気化学分析で、金属の膜厚測定に最適です。

・CMS2は、あらゆる素地（下地材料）にある、多層を含む金属皮膜の厚みを測定します。 ・CMS2 STEPは、追加のSTEP試験（膜厚および電位差の同時測定）機能を特長としています。 ◆詳細はカタログをダウンロードしてご覧下さい。

蛍光X線式膜厚測定器　FISCHERSCOPE(R) X-R...

微小部品や複雑な構造部品を非破壊で膜厚測定と素材分析。プログラム機能付き電動式XYス...

・FISCHERSCOPE X-RAY XDALシリーズは、汎用性の高い蛍光X線式測定装置です。 ・Ｘ線検出器に、半導体検出器（PIN）搭載のXDAL 237、シリコン・ドリフト検出器（SDD)搭載のXDAL 237 SDDをラインナップ ・微小部品...

蛍光X線式膜厚測定器　FISCHERSCOPE(R) X-R...

蛍光X線によるメッキ量産部品やPCBなどの膜厚測定や素材分析

・汎用性の高い蛍光X線式測定装置です。 ・量産部品の品質管理・受入検査・生産管理における膜厚測定や組成分析に最適な装置です。 ・高精度かつ長期安定性。 ・再校正に必要な時間や労力を大幅に削減できます。 ◆詳細はカタログをダウンロードしてご覧下...

蛍光X線式膜厚測定器　FISCHERSCOPE(R) X-R...

膜厚測定と材料分析を行う測定機！　一般メッキからハイテク・エレクトロニクスにまで測定...

◆Ｘ線管球にマイクロフォーカスチューブを搭載し、より小さな測定スポットで分析 ◆ハウジングに細い開口部（Ｃスロット）があり、大きな板状サンプルも測定可能 ◆4種類のコリメータを標準装備。 ◆詳細はカタログをダウンロードしてご覧下さい。

【卓上型測定器】膜厚測定・材料試験用 マルチ測定システム　F...

膜厚測定と材料試験を1台で測定することが可能なマルチ測定システム

・FISCHERSCOPE(R) MMS(R) PC2は、様々な測定方式による膜厚測定を1台で可能とし、品質管理が重視されるあらゆる分野で使用されています。 ・8種類のモジュールボードで、プローブを交換することにより様々な機能を拡張して測定が可能です。...

蛍光X線方式膜厚測定/RoHS分析/素材分析器　FISCHE...

XNiPリン濃度、薄膜皮膜測定、微量分析及びRoHS測定の為の蛍光Ｘ線測定器です。

■大きなセンシング面積と高いエネルギー分解能を持つシリコン・ドリフト・ディテクター（SDD）をX線検出器に採用しています。 ■それぞれの分析において理想的な励起状態を作るためにコリメーターと一次フィルターが交換可能になっています。 ■NiPの膜厚を測...

蛍光X線式測定装置　FISCHERSCOPE(R) X-RA...

X線源と検出器が下側に配置のコンパクト設計の蛍光X線式測定器です

・FISCHERSCOPE X-RAY XULM(R)は、X線源と検出器が測定チャンバーの下側に配置されています。 ・コンパクトな設計ですが、量産品の測定用に設計されており、大きなサンプルを測ることもできます。 ・XULM(R)は、小さな構造物に使用...

非鉄金属の導電率を測定　SIGMASCOPE(R) SMP3...

導電率を迅速に高い精度で容易に測定できます。

・SIGMASCOPE(R) SMP350は、導電率をDIN EN2004-1とASTM E 1004に準拠した渦電流位相変位感応式で測定します。 ・この方式は、最大500μm厚の塗料やプラスチックコーティングの下にある非鉄金属素地の導電率を非接触で測...

渦電流位相式膜厚測定器　PHASCOPE(R)PMP10

電気メッキ産業やプリント回路基板（PCB）産業における品質管理に最適な測定装置です。

・形状が複雑な部品や表面の粗い亜鉛、銅、ニッケルめっきの膜厚測定 ・レジスト膜の下にあるプリント基板上の銅の膜厚測定 ・この測定器は、渦電流位相式（渦電流位相変位感応式）を採用しているため、さまざまな基板の金属皮膜の測定が可能です。 ◆詳細はカ...

蛍光X線測定器 FISCHERSCOPE®　X-RAY XD...

電動ステージでの最上位機種

非常に薄い皮膜の自動測定と微量分析のための、プログラミング可能な高精度XYステージと Z軸を備えた、極めて高度な要求に対応する蛍光X線測定器です。 大気中測定用としては、最上位機種で、ベリリウム窓のマイクロフォーカスＸ線源、 高感度・高分解能なＸ線...